極速互感器檢定裝置 磁性能測(cè)量?jī)x CT綜合儀
該裝置由HN17A極速互感器校驗(yàn)儀、電流負(fù)載箱、控製櫃、電流互感器測(cè)試臺(tái)等幾個(gè)部分組成。在保持原技術(shù)特點(diǎn)的前提下，在電流互感器的快速測(cè)量、測(cè)試點(diǎn)的快速、以及負(fù)荷箱、變比的互感器覆蓋等方麵有了很大的提高。

燈具分布光度計(jì)是一種大型的精密光學(xué)測(cè)試設(shè)備，是燈具分布光度測(cè)量中必備的重要設(shè)備。傳統(tǒng)的分布光度計(jì)主要為機(jī)械式結(jié)構(gòu)，通過(guò)機(jī)械控製旋轉(zhuǎn)測(cè)量整個(gè)三維空問(wèn)的燈具光強(qiáng)分布。目前在發(fā)展中的這類傳統(tǒng)分布光度計(jì)主要有旋轉(zhuǎn)反光鏡式分布光度計(jì)。運(yùn)動(dòng)反光鏡式分布光度計(jì)和旋轉(zhuǎn)燈具式分布光度計(jì)等幾種結(jié)構(gòu)形式℃IEl27一1997對(duì)LED的光學(xué)和電學(xué)測(cè)試進(jìn)行了要求，也是采用傳統(tǒng)光度測(cè)量方法進(jìn)行LED測(cè)試的依據(jù)。近年來(lái)，隨著CCD成像技術(shù)的發(fā)展與成熟，同時(shí)由於其可視化效果好，簡(jiǎn)易方便，人們開(kāi)始逐漸尋求采用成像技術(shù)來(lái)進(jìn)行光度測(cè)量，目前已有可用於基於成像技術(shù)的亮度計(jì)，輔助傳統(tǒng)類型的亮度計(jì)。

 主要特點(diǎn)     

1、該互感器檢定裝置細(xì)調(diào)節(jié)采用了程控源技術(shù)，使測(cè)試點(diǎn)的更加快速、準(zhǔn)確。

2、該互感器檢定裝置在多隻電流互感器測(cè)量速度方麵有了質(zhì)的提高，在3-5分鐘的時(shí)間裡可測(cè)量十二隻任何變比的電流互感器。

3、極速互感器檢定裝置配置了1A、5A的標(biāo)準(zhǔn)電流互感器，電流負(fù)荷箱配置了1A、5A負(fù)載值2.5VA-80VA，電壓負(fù)載箱配置了100V、100/1.732負(fù)載值從1.25VA-158.75VA基本上可滿足用戶的要求。負(fù)載箱在測(cè)量時(shí)可進(jìn)行自動(dòng)切換。

 4、此互感器檢定裝置可進(jìn)行互感器的規(guī)程和非規(guī)程的測(cè)量，測(cè)量時(shí)用戶可對(duì)任何百分點(diǎn)的測(cè)量。

模擬外圍設(shè)備必須具有的精密度取決於其應(yīng)用，可從8b閃存ADC到24bΣ-ΔADC多種範(fàn)圍內(nèi)選擇。從轉(zhuǎn)換速率到電壓基準(zhǔn)的精度，ADC的許多具體特性都會(huì)影響設(shè)計(jì)工程師的選擇含有DAC和ADC就可以構(gòu)成精密模擬微控製器？不一定。模擬微控製器的類型和性能的變化範(fàn)圍可能很寬。有些應(yīng)用不需要高分辨率或高速吞吐率，可以使用基本的模擬微控製器。而另外一些應(yīng)用需要的精度。模擬微控製器的外圍設(shè)備通常與硬件（共享存儲(chǔ)器或者直接存儲(chǔ)器存?。―MA））集成在一起，以減少主機(jī)的開(kāi)銷並同時(shí)提高吞吐率。技術(shù)參數(shù)

2、測(cè)量範(fàn)圍：
   同相分量（%）：0.0001~200.0       分辨率：0.0001
   正交分量（分）：0.001~700.0       分辨率：0.001
   阻抗（W）：0.0001~20.0         分辨率：0.0001
   導(dǎo)納（ms）：0.0001~20.0        分辨率：0.0001