所以，如想使電流信號(hào)在電纜周?chē)a(chǎn)生磁場(chǎng)，流經(jīng)線(xiàn)芯與金屬護(hù)層的電流值就不能相等，必須有一部分電流從其它導(dǎo)體分流，這裡的其它導(dǎo)體就是大地，從大地中分流的電流I，是路徑探測(cè)的關(guān)鍵，I，越大，電纜周?chē)拇艌?chǎng)就越大。相對(duì)耦合法，直連法給電纜施加信號(hào)較強(qiáng)，優(yōu)先使用直連法，且使用相和大地之間注入信號(hào)的接線(xiàn)方式（鎧裝懸空）；由於110kV電纜的護(hù)層存在一定感應(yīng)電壓，采用耦合夾鉗的接線(xiàn)方式時(shí)，不可將夾鉗鉗口完全閉合，否則會(huì)在環(huán)形夾鉗上形成感應(yīng)電流損壞儀器，此時(shí)在閉合鉗口墊上一張薄紙片即可；采用直連法（金屬護(hù)層和地之間注入信號(hào)的接線(xiàn)方式）時(shí)更不能直接接線(xiàn)，此時(shí)可增加一個(gè)信號(hào)發(fā)生器LVD5000此感應(yīng)電壓，防止損壞設(shè)備或造成乾擾。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡(jiǎn)介：

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量

5 CT二次繞組電阻測(cè)量

6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量

7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線(xiàn)、 5％誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值係數(shù)（ALF）、 儀表保安係數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。但在不當(dāng)?shù)膽?yīng)用中會(huì)導(dǎo)致電網(wǎng)的波形產(chǎn)生嚴(yán)重畸型，嚴(yán)重影響電網(wǎng)運(yùn)行的質(zhì)量。下麵來(lái)看看電磁參量測(cè)量與儀表領(lǐng)域的主要技術(shù)。1)多功能：在數(shù)字采樣技術(shù)、嵌入式微處理器、大規(guī)模集成電路和傳感器發(fā)展的帶動(dòng)下，電磁測(cè)量?jī)x表正向著一機(jī)多用發(fā)展，嵌入式操作係統(tǒng)、多參數(shù)(包括可以轉(zhuǎn)換為電量的非電量)測(cè)量、瞬間信號(hào)動(dòng)態(tài)捕捉與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、數(shù)據(jù)記錄與存儲(chǔ)等功能成為主要趨勢(shì)。2)係統(tǒng)化：無(wú)線(xiàn)、紅外、US485等接口技術(shù)的引入，使電磁測(cè)量?jī)x表可以隨時(shí)隨地接入計(jì)算機(jī)、總線(xiàn)、互聯(lián)網(wǎng)等各類(lèi)係統(tǒng)，而作為係統(tǒng)終端進(jìn)行電量或非電量的采樣、測(cè)量、傳輸、、處理、存儲(chǔ)與顯示等。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測(cè)量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測(cè)量範(fàn)圍：1~30000
■ PT變比測(cè)量範(fàn)圍：1~30000華能互感器儀 HN12F變頻互感器綜合測(cè)試儀如此短的“快照速度”可以定格畫(huà)麵，準(zhǔn)確測(cè)量非?？斓乃矔r(shí)變化。FLIR銻化銦製冷型熱像儀拍攝的FA-黃蜂戰(zhàn)鬥機(jī)的定格畫(huà)麵相反，非製冷型熱像儀，比如FLIRT13sc，它的像素由隨溫度產(chǎn)生明顯電阻變化的材料組成。而且，每一個(gè)像素的溫度都會(huì)升高或降低。其電阻隨溫度的變化而變化，並可測(cè)量其數(shù)值，同時(shí)通過(guò)校準(zhǔn)流程映射至目標(biāo)溫度?，F(xiàn)今配備的微測(cè)輻射熱計(jì)紅外熱像儀的快照速度或“時(shí)間常數(shù)”一般為8-12ms。