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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):華能CP/PT綜合分析儀 HN12F互感器特性測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HN10A
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
CT勵(lì)磁/直阻/變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接CT二次側(cè); PT變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接被測(cè)PT一次側(cè)(高壓側(cè)); PT勵(lì)磁/直阻試驗(yàn)時(shí),接被測(cè)PT二次繞組(低壓側(cè))華能CP/PT綜合分析儀 HN12F互感器特性測(cè)試儀
詳情介紹:

下麵針對(duì)某高鐵通訊問(wèn)題進(jìn)行簡(jiǎn)要的實(shí)例講解。總線延遲產(chǎn)生原因CAN總線主要製約其傳輸距離,由於高鐵列車(chē)的車(chē)身較長(zhǎng)通訊點(diǎn)較多,就會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸和響應(yīng)的延遲。導(dǎo)線在傳輸數(shù)據(jù)時(shí)是存在延遲的,一般通常延遲為5ns/m,同時(shí)隔離器件的不同也會(huì)導(dǎo)致不同的延遲。其中還與導(dǎo)線材質(zhì)(鍍金的0.2平方米相當(dāng)於1.0平方米的銅線)、CAN與隔離方式有關(guān),:光耦隔離延遲要比磁耦隔離大得多。如果CAN的重同步不能彌補(bǔ)傳輸中所產(chǎn)生的延遲,就會(huì)導(dǎo)致應(yīng)答定界符的位寬變大,終導(dǎo)致應(yīng)答定界符在識(shí)彆過(guò)程中識(shí)彆出錯(cuò),將隱性電平識(shí)彆為顯性電平,出現(xiàn)定界符錯(cuò)誤。

HN12A變頻式互感器綜合儀CT/PT儀

功能簡(jiǎn)介:

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量

5 CT二次繞組電阻測(cè)量

6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量

7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT,包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10%誤差曲線、 5%誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)(ALF)、 儀表保安係數(shù)(FS)、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。實(shí)際使用中,儀體的安裝環(huán)境,多少都會(huì)受到外部的溫度變化或者其他乾擾的影響。要確認(rèn)記錄儀在實(shí)測(cè)環(huán)境下的測(cè)量精度,並且儘量選擇不容易受到外部影響的產(chǎn)品。高可靠性記錄儀需要長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)信號(hào)測(cè)試,對(duì)可靠性和耐久性都有較高的要求。並且,記錄儀經(jīng)常需要長(zhǎng)時(shí)間放置在比較惡劣的環(huán)境中使用,較高的環(huán)境耐用性也是其可靠性的重要表現(xiàn)??煽啃赃€體現(xiàn)在記錄數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)上,為確保測(cè)試結(jié)果的可靠性,要求記錄儀的記錄數(shù)據(jù)能夠**有效地存儲(chǔ)並且不易被篡改。華能CP/PT綜合儀 HN12F互感器特性測(cè)試儀

技術(shù)參數(shù):

輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測(cè)量:準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測(cè)量範(fàn)圍:1~30000
■ PT變比測(cè)量範(fàn)圍:1~30000華能CP/PT綜合儀 HN12F互感器特性測(cè)試儀當(dāng)外界熱激勵(lì)時(shí),缺陷的存在會(huì)影響熱傳導(dǎo),導(dǎo)致表麵溫度分布異?;虮睃I溫度隨時(shí)間的變化異常。采用紅外熱像儀測(cè)量被檢複合材料構(gòu)件表麵溫度變化,通過(guò)一定的信號(hào)處理,甚至借助於參塊,獲得其表麵或內(nèi)部缺陷的特征(包括缺陷的位置、大小及性質(zhì)等)。一般來(lái)說(shuō),缺陷越大,越靠近被檢表麵,與基體材料的熱性質(zhì)差彆越大,越容易被檢測(cè)出來(lái)。1應(yīng)用特點(diǎn)紅外熱像檢測(cè)是無(wú)損檢測(cè)方法之一,具有直觀、快速、無(wú)汙染、一次檢測(cè)麵積大等優(yōu)點(diǎn),適用於複合材料構(gòu)件的現(xiàn)場(chǎng)、快速檢測(cè),如器結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。華能CP/PT綜合儀 HN12F互感器特性測(cè)試儀

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