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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:CT綜合分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HN10A
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
CT勵(lì)磁/直阻/變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接CT二次側(cè); PT變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接被測(cè)PT一次側(cè)(高壓側(cè)); PT勵(lì)磁/直阻試驗(yàn)時(shí),接被測(cè)PT二次繞組(低壓側(cè))CT綜合分析儀
詳情介紹:

新方法還有如電子順磁共振、原子標(biāo)度應(yīng)力測(cè)試、電子衍射、無反衝核的共振散射和吸收,誘發(fā)激波脈衝和正電子湮冇等。目前,已有近5種方法被列為無損檢測(cè)的範(fàn)疇。由於汽車零部件幾何形狀複雜,要求設(shè)備水平高,使用材料複雜,要求設(shè)備多樣化、精度高。另外,汽車零部件的生產(chǎn)是大工業(yè)生產(chǎn),有一定節(jié)拍監(jiān)測(cè)要求,且隻有降低檢測(cè)費(fèi)用,才能降低汽車生產(chǎn)成本,提高在市場(chǎng)上的競(jìng)爭(zhēng)能力。隨著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,汽車工業(yè)已成為我國(guó)的支柱產(chǎn)業(yè)。

HN12A變頻式互感器綜合儀CT/PT儀

功能簡(jiǎn)介:

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量

5 CT二次繞組電阻測(cè)量

6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量

7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT,包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10%誤差曲線、 5%誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)(ALF)、 儀表保安係數(shù)(FS)、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。所述存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償餘數(shù)具體包括:用第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)覆蓋第n-1個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)裝置,包括:溫度測(cè)量模塊,用於根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù);控製模塊,用於根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償餘數(shù),並根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償餘數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。所述控製模塊,具體用於在個(gè)補(bǔ)償周期中,按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn),並將所述補(bǔ)償餘數(shù)存入存儲(chǔ)模塊;所述存儲(chǔ)模塊,用於存儲(chǔ)所述補(bǔ)償餘數(shù)。CT綜合儀

技術(shù)參數(shù):

輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測(cè)量:準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測(cè)量範(fàn)圍:1~30000
■ PT變比測(cè)量範(fàn)圍:1~30000CT綜合儀一般來說,直流電源具有CV/CC兩種工作模式,分彆對(duì)應(yīng)內(nèi)部?jī)蓚€(gè)環(huán)路(CV控製環(huán)和CC控製環(huán))。當(dāng)今市場(chǎng)上的大多數(shù)電源供應(yīng)器均采用電壓優(yōu)先模式設(shè)計(jì),不能提供電流環(huán)控製優(yōu)先模式;事實(shí)上這種情況非常普遍,大多數(shù)工程師甚至從來冇有意識(shí)到還有優(yōu)先模式存在,他們隻是期望自己的電源能夠正常提供電壓電流和功率輸出。但隨著電子測(cè)試需求的變革,這種方式的局限性也體現(xiàn)出來,CV控製環(huán)優(yōu)先的情況下,雖然一定程度上可以加快電壓的上升速度,但不能夠適用於對(duì)電流過衝測(cè)試要求嚴(yán)苛的場(chǎng)合。CT綜合儀

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