有的朋友買了示波器，看到示波器的刷新率標稱，可能會很好奇，想知道能否測出來。相對於采樣率、存儲深度等由硬件特性決定的指標，刷新率完全是由處理器處理方式?jīng)Q定的，合理的數(shù)據(jù)處理方式可以得到更高的刷新率，接下來我們就手把手教大家測量示波器的刷新率，感興趣的朋友可以拿起手中的示波器測一下。我們先來了解下示波器刷新率（也叫波形捕獲率）的概念。波形捕獲率概念波形捕獲率是個什麼概念呢？波形捕獲率是相對於數(shù)字示波器來說的。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值係數(shù)（ALF）、 儀表保安係數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。20世紀80年始，非製冷紅外焦平麵陣列探測器在美國支持下發(fā)展起來的，在1992年研發(fā)完成後才對布。初期技術路線包括德州儀器研製的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研製的氧化釩（VOx）微測輻射熱計探測器。後來由於熱釋電技術本身的一些局限性，微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測器。之後，法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分彆研製了非晶矽（a-Si）微測輻射熱計探測器。

技術參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍：1~30000
■ PT變比測量範圍：1~30000CP/PT儀 鐵心磁性能測量儀 使用方法OTA測試可以將產(chǎn)品內部輻射乾擾、產(chǎn)品結構、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進去，是非常接近產(chǎn)品實際使用場景的測試手段。我們以早的3GUESISOOTA測試為例來了解OTA測試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉盤（控製UE旋轉）天線（在某一固置接收UE輻射信號）用於提供天線虛擬信號的無線測試平臺（如KeysightUXM係列，圖中未顯示）測量過程中將通過旋轉轉臺來控製並測量UE天線在不同方向的輻射特性。