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它可以從室外飛進建築物或洞穴,在人員受到傷害之前幫助情況。飛得更快更遠(yuǎn)——與以前的版本相比,新版本可以飛得更快更遠(yuǎn)??梢砸悦啃r21公裡的速度飛行。由於飛行速度更快,它的飛行距離也比之前的版本有所增加,現(xiàn)在增加到了2公裡。提高了圖像畫質(zhì)——BlackHornet3提高了整體圖像質(zhì)量。該係統(tǒng)配備了較新的FLIRLepton熱傳感器和高清攝像頭,能提供更清晰的圖像處理,為操作人員更好的提供情報。模塊化——舊的BlackHornet版本傳感器和電池是一體式的。
HN10A互感器特性綜合測試儀變頻式互感器測試儀 CP/PT儀 微型互感器誤差校驗裝置
功能簡介:
測試互感器:PT、CT(保護類、計量類)、伏安特性(勵磁特性)曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位(角差)測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負(fù)荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計的多功能現(xiàn)場試驗儀器。
技術(shù)參數(shù):
1、工作電源:AC220V±10% 、50Hz
2、設(shè)備輸出:0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值)
3、大電流輸出:0~1000A
4、二次繞組電阻測量範(fàn)圍:0.1~50Ω
5、二次繞組電阻測量準(zhǔn)度:≤0.5%、分辨力0.01
6、二次實際負(fù)荷測量範(fàn)圍:5~300VA
7、二次實際負(fù)荷測量準(zhǔn)度:≤0.5%±0.1VA你知道現(xiàn)在的處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個內(nèi)核來同時運行很多應(yīng)用程序,操作遊戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時超過10A),並且需要以儘可能快的速度傳送這個電流。由於不斷增長的內(nèi)核數(shù)量,為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時,需要真正的業(yè)內(nèi)進的電源技術(shù)。TI有幾款為處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器,諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。
軟件使用說明
11.1 將配套光盤放入計算機光驅(qū)中,解壓“軟件”至C盤根目錄。
11.2,安裝“wic_x86_chs.exe”文件,其次,安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件,默認(rèn)安裝地址即可。
11.3安裝完畢後,打開“伏安特性”文件夾,選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件,如圖38即為上位機操作軟件。
11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中,下方選擇互感器種類“CT”或“PT”,應(yīng)用語言“中文”或“英文”。
11.5如需生成報告格式文件,必須載入試驗結(jié)果數(shù)據(jù),具體操作方法如下:
a)、將存儲試驗數(shù)據(jù)的U盤連接至計算機。
b)、在圖38中選擇打開“選擇文件”,出現(xiàn)圖39操作窗口,在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。
c)、試驗結(jié)果數(shù)據(jù)說明:以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵磁特性結(jié)果數(shù)據(jù),以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù),以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù),以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù),以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束後,選擇“確定”出現(xiàn)圖40界麵,在此界麵右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)後,選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結(jié)果的載入。
11.7 載入完成後,可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.8 選擇“保存”選項,則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。
11.9 如需繼續(xù)加載試驗結(jié)果數(shù)據(jù),請先上次載入的數(shù)據(jù)。
HN12A變頻式互感器綜合儀(CT/PT儀)
功能簡介:
1 勵磁特性試驗
2 變比試驗
3 相位和極性試驗
4 CT一次電流及負(fù)荷時的比差、角差測量
5 CT二次繞組電阻測量
6 CT二次回路負(fù)荷測量
7 CT暫態(tài)特性測試與
8 CT升流試驗
9 測量校核型號的CT、PT,包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.
10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.
自動給出點電壓/電流、 10%誤差曲線、 5%誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)(ALF)、 儀表保安係數(shù)(FS)、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。
技術(shù)參數(shù):
輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測量:準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量範(fàn)圍:1~30000
■ PT變比測量範(fàn)圍:1~30000變頻式互感器測試儀 CP/PT儀 微型互感器誤差校驗裝置關(guān)於科技未來發(fā)展趨勢的10個定律,其中第九條是人工智能學(xué)家AIE實驗室的研究成果。這些規(guī)律對判斷科技未來發(fā)展趨勢從不同角度發(fā)揮著作用。從1969年互聯(lián)網(wǎng)誕生以來,互聯(lián)網(wǎng)發(fā)生了翻天覆地的變化,新的應(yīng)用不斷出現(xiàn),從早期的線路,大型計算機,電子郵件,ftp,BBS,到今天的智能,搜索引擎,社交網(wǎng)絡(luò),在繁雜的互聯(lián)網(wǎng)現(xiàn)象背後,到底有冇有規(guī)律可循,本文列出了10個關(guān)於科技未來發(fā)展趨勢的定律和理論,其中來自的有一個,這些理論定律是否科學(xué)或者是否成立,也仍然需要得到時間的檢驗和專家的評議。