LED的芯片其實(shí)就是個(gè)半導(dǎo)體，有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過高，LED會(huì)因被擊穿而損壞，所以很多時(shí)候我們需要去測量反向電壓。若隻是單純要測量芯片的特性，基本上使用電源和萬用表即可。主要可測試的項(xiàng)目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測試LED的整體IV曲線特性幾個(gè)參數(shù)正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項(xiàng)目的測試其實(shí)並不算困難，但必須要選對(duì)合適的測量儀器。若是選擇了不適合的測量儀器，測試的值誤差則會(huì)非常大。
HN10A互感器特性綜合測試儀華能 互感器綜合測試儀 HN10A互感器綜合儀 華能牌

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護(hù)類、計(jì)量類）、伏安特性（勵(lì)磁特性）曲線、自動(dòng)給出點(diǎn)值、自動(dòng)給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負(fù)荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場試驗(yàn)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量範(fàn)圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實(shí)際負(fù)荷測量範(fàn)圍：5～300VA

7、二次實(shí)際負(fù)荷測量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA打開451的時(shí)間門測量功能，將中心頻率設(shè)置成f1，頻寬為希望測量的偏離f1的頻率偏移的兩倍，將時(shí)間門觸發(fā)信號(hào)設(shè)置為外部門控輸入，門寬度設(shè)置成T1，該數(shù)值必須小於跳頻源工作在f1頻點(diǎn)的駐留時(shí)間，此時(shí)451輸出的信號(hào)頻譜即為跳頻源工作在f1頻率時(shí)的雜散頻譜，利用差值頻標(biāo)功能即可獲得雜散數(shù)值。跳頻源輸出信號(hào)、觸發(fā)門控信號(hào)和時(shí)間門信號(hào)的時(shí)序關(guān)係圖給出了跳頻源輸出、觸發(fā)門控信號(hào)、時(shí)間門信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)係圖。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢後，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束後，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界麵，在此界麵右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)後，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入完成後，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請(qǐng)先上次載入的數(shù)據(jù)。

時(shí)序統(tǒng)計(jì)結(jié)果測量結(jié)果失敗報(bào)表問題並做穩(wěn)定性驗(yàn)證通過上述測試，SPI總線的建立時(shí)間偏小，保持時(shí)間偏大，調(diào)整時(shí)鐘信號(hào)時(shí)序延遲6.5ns左右，就可得到較好時(shí)序，即將數(shù)據(jù)信號(hào)建立時(shí)間和數(shù)據(jù)信號(hào)保持時(shí)間儘可能接近。整改之後再次用時(shí)序軟件對(duì)SPI總線進(jìn)行一夜的穩(wěn)定性測量，測量結(jié)果如所示，進(jìn)行了72842次時(shí)序，所有測試都通過，且每一項(xiàng)測量項(xiàng)都PASS。之前的問題項(xiàng)建立時(shí)間，值1.75ns，值13.5ns，非常，這顯示了SPI總線的時(shí)序非常穩(wěn)定性。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負(fù)荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測量校核型號(hào)的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)（ALF）、 儀表保安係數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量範(fàn)圍：1~30000
■ PT變比測量範(fàn)圍：1~30000華能 互感器綜合測試儀 HN10A互感器綜合儀 華能牌同時(shí)實(shí)現(xiàn)零門檻的zigbee組網(wǎng)使用。傳統(tǒng)zigbee協(xié)議：了解zigbee協(xié)議、基於方庫編程開發(fā)、測試網(wǎng)絡(luò)健壯性及穩(wěn)定性並反複調(diào)試、規(guī)劃應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)、啟動(dòng)等待組網(wǎng)、實(shí)現(xiàn)zigbee通訊。Fastzigbee協(xié)議：黑匣子，軟件配置，布網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)zigbee組網(wǎng)通訊。zigbee協(xié)議的對(duì)比傳統(tǒng)的zigbee通訊協(xié)議節(jié)點(diǎn)類型分為3種：協(xié)調(diào)器、路由器、終端節(jié)點(diǎn)。用戶自行開發(fā)需從zigbee的底層通訊機(jī)製到用戶API的了解掌握，並且由於無線協(xié)議的複雜性和無線實(shí)驗(yàn)平臺(tái)環(huán)境搭建的高額成本，導(dǎo)致超過50%的用戶存在zigbee通訊的隱性問題。