電子負(fù)載常用於在電源或其他電能轉(zhuǎn)換設(shè)備的產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)試驗中，包括電機驅(qū)動器和逆變器。負(fù)載一般有兩種形式：由功率電阻組成的基礎(chǔ)負(fù)載和使用主動電路用以動態(tài)模擬負(fù)載變化的電子負(fù)載。負(fù)載常用於老化測試進(jìn)而確定產(chǎn)品早期故障，作為生產(chǎn)測試的一個重要環(huán)節(jié)。電子負(fù)載常被整合到自動測試係統(tǒng)中。測試報告要麼被存在本地或者通過電腦接口上傳，這樣測試數(shù)據(jù)可以被進(jìn)一步處理或用於存檔。對於多數(shù)電子負(fù)載而言，他們的通就是占空間，消耗大量電能，產(chǎn)生熱量和噪音。
HN10A互感器特性綜合測試儀華能 電流互感器測試儀 HN10ACP/PT綜合儀 操作步驟

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護(hù)類、計量類）、伏安特性（勵磁特性）曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負(fù)荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計的多功能現(xiàn)場試驗儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量範(fàn)圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實際負(fù)荷測量範(fàn)圍：5～300VA

7、二次實際負(fù)荷測量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA用網(wǎng)絡(luò)儀測試時，測試端口是標(biāo)準(zhǔn)50Ω同軸線纜，因此在連接被測電纜時要求使用轉(zhuǎn)接頭或夾具，而這些接頭和夾具的S參數(shù)未知，需要去除其影響，才能獲得被測線纜的實際參數(shù)。目前常用的方法是去嵌入或夾具移除法，這些方法要求設(shè)計的夾具和微帶校準(zhǔn)件，校準(zhǔn)後移除夾具的S參數(shù)。其難點在於夾具及其校準(zhǔn)件的製作，通常校準(zhǔn)件的參數(shù)是理論設(shè)計值，跟實際值有一定差距，並且校準(zhǔn)和得到的夾具自身S參數(shù)，可能造成實測數(shù)據(jù)曲線的波動，甚至錯誤。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計算機光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢後，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報告格式文件，必須載入試驗結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲試驗數(shù)據(jù)的U盤連接至計算機。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束後，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界麵，在此界麵右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)後，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結(jié)果的載入。

11.7 載入完成後，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗結(jié)果數(shù)據(jù)，請先上次載入的數(shù)據(jù)。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負(fù)荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負(fù)荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)（ALF）、 儀表保安係數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量範(fàn)圍：1~30000
■ PT變比測量範(fàn)圍：1~30000華能 電流互感器測試儀 HN10ACP/PT綜合儀 操作步驟為了趕上摩爾定律的發(fā)展速度，光靠量變是不夠的。每一種技術(shù)，過不了多少年，量變的潛力就會被挖掘光，這時就必須要有性的創(chuàng)造誕生。另外，反摩爾定律使得新興的小公司有可能在發(fā)展新技術(shù)方麵和大公司處在同一個起跑線上，甚至可能取代原有大公司在各自領(lǐng)域中的地位。另外，在通信芯片的設(shè)計上，博通和Marvell在很大程度上已經(jīng)取代了原來朗訊的半導(dǎo)體部門，甚至是英特爾公司在相應(yīng)領(lǐng)域的業(yè)務(wù)。吉爾德定律在未來25年，主乾網(wǎng)的帶寬每6個月增長一倍，其增長速度是摩爾定律的CPU增長速度的3倍。