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有功功率的精度在DC以及6Hz時為.2%rdg.、1kHz時為.15%rdg.、1kHz時為.9%rdg.,實現(xiàn)了到1MHz的功率測量帶寬,以高精度覆蓋PWM的頻率範圍。體現(xiàn)同相電壓噪音耐性的CMRR性能在1kHz時達到8dB,強化了在噪音環(huán)境下的穩(wěn)定性。組合電流傳感器是從1994年開始由HIOKI提供的傳統(tǒng)的高性能機型,是組合了磁通門和零磁通方式的AC/DC機型。重視精度的貫通型覆蓋5A額定到1A額定,兼具精度和便利性的鉗型覆蓋2A額定到5A額定,可在5W級彆到5kW級彆範圍內,根據(jù)測量係統(tǒng)自由選擇使用。
HN6200A大型地網(wǎng)接地電阻測試儀
地網(wǎng)接地電阻測試儀 華能牌三相變比組彆測試儀 大量供應
測試操作步驟
1) 檢查用於試驗的電流線、電壓線和地網(wǎng)線是否有斷路現(xiàn)象(可以用萬用表測量),地樁上的鐵鏽是否乾淨,其埋進深度是否合適(>0.5米),同時檢查測試線與地樁的連接是否導通,如未導通,請?zhí)幚磲嶂匦逻B接。
2) 電流測試線與電壓測試線的長度比為1:0.618,電流測試線的長度應是地網(wǎng)對角線的3—5倍。
3) 電流測試線和電壓測試線按規(guī)定的長度將一端與儀器相接後平行放出。另一端分彆接在兩支地樁上(如圖2所示)。
4) 將已放好的測試線檢查一遍,將萬用表一端接電流線或電壓線,另一端接地網(wǎng)線如無阻值顯示即為斷路,確認完好再進行測試。
5) 檢查連線無誤後,給儀器接上AC220V/50HZ電源,對儀器進行通電。
6) 按測量鍵,開始測量
7) 儀器顯示測試結束後,記錄測試數(shù)據(jù)(本儀器可多次重複測量)。
8) 關掉儀器電源後,拆除連線,測試過程結束。往往這要求設計人員使用外部硬件或是通過位拆裂在固件中實現(xiàn)接口。位拆裂使用固件觸發(fā)IO端口,一般可用於實現(xiàn)串行接口。如果要監(jiān)測端口以串行數(shù)據(jù)的時候,也可以使用這種方法。無論是使用外部硬件還是位拆裂來實現(xiàn)接口,都會產生額外的設計成本。雖然增加外部硬件帶來的成本是明顯的,但使用軟件實現(xiàn)串行接口可能也會要求使用速度更快因而也更加昂貴的CPU。大多數(shù)通用微控製器今天都支持SPUART和I2C接口,但仍然有很多時候,某些內部用戶可編程邏輯會非常有用。
3.儀器操作說明:
1) 打開電源開關,計算機進行自檢,液晶屏顯示中文主菜單如圖3所示。
1)
2) 在光標當前所示項目,按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單的變更,並循環(huán)指示,流程見圖5所示。
本儀器是測量地網(wǎng)接地電阻和接地點之間的接地導通的儀器。儀器采用變頻抗乾擾技術,不需大電流測量,能在變電站強乾擾環(huán)境下測得50Hz的準確數(shù)據(jù),測量結果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。儀器能測量接地阻抗和接地電阻,更能真實反映地網(wǎng)的實際特性。一個捕獲周期包括采樣時間和死區(qū)時間,模擬信號通過ADC采樣量化變轉為數(shù)字信號同時存儲,整個采樣存儲過程的時間稱為采樣時間。示波器必須對存儲的數(shù)據(jù)進行測量運算顯示等處理,才能開始下一次的采樣,這段時間稱為死區(qū)時間。死區(qū)時間內,示波器並冇有進行波形采集。一個捕獲周期完成就會進入下一個捕獲周期。捕獲周期的倒數(shù)就是波形刷新率,如.1中所示,波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采樣過程示意圖影響波形刷新率的因素有哪些?采樣時間和死區(qū)時間如.1中所示,波形刷新率為Tacq(采樣時間)和Tdeat(死區(qū)時間)的倒數(shù),其中采樣時間由示波器屏幕的采樣窗格決定,用水平時基檔位乘以水平方向格數(shù),當水平時基確定後,采樣時間就會固定。
◆大型地網(wǎng)接地電阻測試儀 產品特點
1、測量的工頻等效性好。測試電流波形為正弦波,頻率與工頻相差更小0.25Hz,為5Hz??捎渺?0hz或60hz兩種頻率進行測量。
2、測量精度高?;菊`差0.005Ω,可用來測量接地阻抗更小的大地網(wǎng)。
3、功能強大??蓽y量電流樁,電壓樁,地網(wǎng)阻抗、接地電阻,接地導通、土壤電阻率等。
技術參數(shù)
1、測量範圍:0~5000Ω
2、分 辨 率:0.001mΩ
3、測量誤差:±(讀數(shù)×2%+0.005Ω)
4、抗工頻50Hz 電壓乾擾能力:10V
5、測試電流波形:正弦波
6、測試電流頻率:單頻:40-70Hz 分辨率0.01Hz 隨意設置
雙頻:50±0.25Hz 到 50±5.0Hz 步進0.25Hz
60±0.25Hz 到 60±5.0Hz 步進0.25Hz
按 鍵可移動光標至各菜單項,並循環(huán)指示。被選中項反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖4所示。
地網(wǎng)接地電阻測試儀 華能牌三相變比組彆測試儀 大量供應世界半導體工業(yè)界,這種進步至少仍將持續(xù)10到15年。麵對現(xiàn)有的晶體管模式及技術已經(jīng)臨近極限,借助芯片設計人員巨大的創(chuàng)造才能,使一個個看似不可逾越的難關化險為夷,矽晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國科學家的科技成果顯示,將10納米長的圖案壓印在矽片上的時間為四百萬分之一秒,把矽片上晶體管的密度提高了100倍,同時也大大提高了線生產的速度。這一成果將使電子產品繼續(xù)微小化,使摩爾定律繼續(xù)適用。