幾種檢定方式的選取流量測(cè)量?jī)x表的檢定，通常采用實(shí)流檢定和乾式檢定兩種方式。采用何種方式檢定流量?jī)x表取決於計(jì)量係統(tǒng)對(duì)測(cè)量不確定度的要求、被檢流量計(jì)的類型、用途、所具備的檢定條件、檢定所需費(fèi)用等諸多因素。一般，用於液體計(jì)量的流量?jī)x表（如原油和水計(jì)量?jī)x表）基本上采用實(shí)流檢定，而氣體計(jì)量的流量?jī)x表（如天然氣貿(mào)易結(jié)算用的差壓式流量?jī)x表）絕大多數(shù)采用乾式檢定方式，隻有極少數(shù)采用臨界流噴嘴在線實(shí)流檢定或離線檢定。
HN6000A四通道變頻抗乾擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀  HN60多通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 華能有源變壓器容量測(cè)試儀 全自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

   該儀器可用正、反接線方法測(cè)量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備?？梢詼y(cè)量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用於電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

抗乾擾介損自動(dòng)測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗乾擾指標(biāo)： 變頻抗乾擾，在200%乾擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量範(fàn)圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg範(fàn)圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)彆。
    5、試驗(yàn)電流範(fàn)圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓範(fàn)圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻伏安法測(cè)量地阻有明顯的不足之處,試驗(yàn)時(shí),接地棒距離地極為20～50m,而輔助接地距離接地點(diǎn)40～100m。另外，受外界乾擾影響,在強(qiáng)電壓區(qū)域內(nèi)有時(shí)無法測(cè)量。測(cè)量?jī)x檢測(cè)法。單鉗口接地電阻測(cè)試儀是當(dāng)前較為熱門的一種地阻測(cè)試儀。由於儀器體積小巧,操作又十分簡(jiǎn)便,不失為檢測(cè)接地裝置好壞的儀器。該儀器適用於輸出電線桿塔、微波塔、避雷針等接地裝置的接地電阻測(cè)量。單鉗口接地電阻測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)雖然使用一定頻率的信號(hào)以排除乾擾,但在被測(cè)線纜上有很大電流存在的情況下,測(cè)量也會(huì)受到乾擾,導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確,且無法測(cè)量土壤電阻率。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30AHN60多通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 華能有源變壓器容量測(cè)試儀 全自動(dòng)電容電流測(cè)試儀在過去的幾十年裡，很少有其它檢測(cè)儀器像光學(xué)投影比較儀那樣測(cè)量快捷、使用方便。光學(xué)投影比較測(cè)量是將投射到投影屏上的工件放大輪廓與繪製有按比例放大的工件正確外形及公差帶的透明膠片進(jìn)行對(duì)比，以直接判定工件合格與否。雖然隨著采用電子技術(shù)、精度更高的幾何形貌測(cè)量技術(shù)的發(fā)展，光學(xué)比較測(cè)量這種簡(jiǎn)單的檢測(cè)方式已顯得有些過時(shí)，但投影比較儀仍然是生產(chǎn)車間常用的視覺檢測(cè)儀器。與此同時(shí)，其它高技術(shù)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量能力在不斷提高，如基於攝像機(jī)的視覺檢測(cè)係統(tǒng)能夠降低操作者的人為誤差，使微小的工件形貌可見和可測(cè)。