3D金屬打印過程中，以金屬粉未為原料，打印任意形狀的零件，而結(jié)構(gòu)件的溫度高低、溫度變化趨勢對金屬結(jié)構(gòu)件的特性造成關(guān)鍵的影響，溫度控製是打印過程中重要的因素。TiX1000+微距鏡頭3在離目標(biāo)90厘米進(jìn)行檢測技術(shù)難點(diǎn)：部分材料目標(biāo)小：開始打印時(shí)，目標(biāo)尺寸可能較小，如案例中，隻有2-3mm而且需要看清楚材料表麵的溫度分布，及溫度變化過程。需要微距鏡頭才可以清晰看到材料表麵的溫度分布。同時(shí)由於加工設(shè)備的需要及加工**需要，拍攝距離可能需要需要較遠(yuǎn)，則需要微距3的鏡頭。

HN6300接地引下線導(dǎo)通測試儀接地導(dǎo)通電阻測試儀 手持式直流電阻測試儀 定製定做

產(chǎn)品用途
   接地引下線導(dǎo)通測試儀 適用於適用於電力設(shè)備接地引下線與接地網(wǎng)（或相鄰設(shè)備）之間導(dǎo)通電阻值的測量，同樣適用於低阻值電阻的測量。HN6300接地引下線導(dǎo)通測試儀根據(jù)直流電路的基本計(jì)算公式R=U/I和串聯(lián)電路電流處處相等的原理，采用四線製測量原理，大電流恒流輸出有效地消除了測試線阻值對測試結(jié)果的影響，此儀器交直流兩用，LCD液晶顯示，操作極其簡單且具有報(bào)警提示功能。原理圖如下：

二、主要技術(shù)指標(biāo)：

 測量範(fàn)圍：0～2000mΩ   分辨率：1mΩ

   輸出電流：30A恒流輸出

     測量準(zhǔn)度：±（1%+2d）

測量半徑: 50米  

顯示方式: 12864液晶顯示

工作溫度: -10℃～+50℃

當(dāng)然，如果我們找到了對的人，一生可能會(huì)比想象中更加幸福，而完軸對中也是可以減少能量損失高達(dá)15%，甚至更多；良好的對中能的減少運(yùn)營成本、大大提高工作效率?？傊?，良好的軸對中，就像是找到了良人。在現(xiàn)代社會(huì)，判斷找對人的方法肯定是很多，比如說通過星座，血型，抑或是看看身高，年齡，工作地點(diǎn)，未來規(guī)劃，或者直接試一試性格能不能在一起。那麼對中的方法其實(shí)也一樣，至少就有一下三種：直尺、百分表法、對中三種方法。

三、操作方法：

1．儀器在使用前先插上電源線打開電源開關(guān)。

2．先找出與地網(wǎng)連接良好的引下線作為基準(zhǔn)點(diǎn)（可用測量地網(wǎng)接地電阻的方法找出基準(zhǔn)點(diǎn)）。

3．使用儀器自配的兩根測量線（50米，5米），大小端子（共四個(gè)）分彆插入儀器的接線柱，（注：粗線端子插電流接線柱，細(xì)線端子插電壓接線柱，且紅黑顏色對應(yīng)）。

   4．（5米）帶有夾子的一端與基準(zhǔn)點(diǎn)連接好，線盤（50米）夾子的一端與被測點(diǎn)連接好。

   5．打開測量開關(guān)，待數(shù)據(jù)穩(wěn)定後即可得到測量結(jié)果。串聯(lián)單點(diǎn)接地的方式簡單，但是存在共同地線的原因，導(dǎo)致存在公共地線阻抗，如果此時(shí)串聯(lián)在一起的是功率相差很大的電路，那麼互相乾擾就非常嚴(yán)重。並聯(lián)單點(diǎn)接地的方式可以避免公共地線耦合的因素，但是每部分電路都需要引地線到接地點(diǎn)上，需要的地線就過多，不實(shí)用。所以，在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，可以采用串聯(lián)和並聯(lián)混合的單點(diǎn)接地方式。在畫PCB板時(shí)，把互相不易乾擾的電路放一層，把互相容生乾擾的電路放不同層，再把不同層的地並聯(lián)接地。

四、注意事項(xiàng)

    1．應(yīng)使用儀器所配備的標(biāo)準(zhǔn)測量線，且必須按照正確的接線方法接線：電流與電壓接線必須同極性（顏色對應(yīng)）；粗接線柱接電流線，細(xì)接線柱接電壓線。

2．在測量前應(yīng)對基準(zhǔn)點(diǎn)及被測點(diǎn)表麵的氧化層進(jìn)行處理。

3．測試時(shí)如果表頭顯示數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，即有可能是連接點(diǎn)已鬆脫或是夾子接觸，去掉氧化層即可。

4．?dāng)?shù)據(jù)穩(wěn)定後，不宜長時(shí)間按住測量鍵。

5．儀器存放在通風(fēng)乾燥的環(huán)境中，應(yīng)避免雨淋。係統(tǒng)基於全製式全覆蓋的測試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測試難題，具體包括芯片模組測試、綜合測試、產(chǎn)線測試等多個(gè)環(huán)節(jié)。典型測試場景如下：發(fā)射機(jī)指標(biāo)測試：UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測量的99%積分平均功率時(shí)對應(yīng)的信號帶寬。NB-IOT下行信號占用帶寬典型測試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比，這個(gè)測來判定終端產(chǎn)品是否有可能對相鄰(或高或低)信道中的接收機(jī)產(chǎn)生乾擾。