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HN1016B蓄電池充放測(cè)試儀 HN係列 蓄電池循環(huán)充放電儀 5年保修 蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀
該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電，單體監(jiān)測(cè)，智能充電於一體。一機(jī)多用，減少企業(yè)成本，降低維護(hù)人員勞動(dòng)強(qiáng)度，為電池和UPS電源維護(hù)提供科學(xué)的檢測(cè)手段。用於電信、、電力等部門(mén)
蓄電池組充放檢電一體機(jī)=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測(cè)+蓄電池組活化.
ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的係數(shù)比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點(diǎn)關(guān)注與測(cè)試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中，與測(cè)試精度有關(guān)的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測(cè)信號(hào)經(jīng)前端采集電路進(jìn)行調(diào)理後傳輸給ADC進(jìn)行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對(duì)ENOB有較大影響，實(shí)際工作時(shí)，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機(jī)噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會(huì)增大ENOB。ENOB說(shuō)明了什麼ENOB是衡量ADC性能的標(biāo)尺，若示波器ENOB指標(biāo)好，那麼偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時(shí)帶寬噪聲也較低。如果主要被測(cè)信號(hào)是正弦波信號(hào)，那麼ENOB就需要重點(diǎn)關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號(hào)調(diào)理電路、ADC采樣電路組成，在設(shè)計(jì)的時(shí)候，會(huì)在前端采用射頻技術(shù)，頻率響應(yīng)方式，實(shí)現(xiàn)的頻響平坦度，以便ADC采樣時(shí)失真，增大ENOB指標(biāo)。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是示波器測(cè)量質(zhì)量的一個(gè)重要依據(jù)，通過(guò)觀測(cè)底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣，因?yàn)槭静ㄆ鞯牡自霑?huì)增加額外的抖動(dòng)並較小設(shè)計(jì)裕量，對(duì)測(cè)試結(jié)果造成較大的影響。
主機(jī)接線說(shuō)明
2.5.1接線、拆線原則
l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。
l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。
2.5.2 放電電纜的連接
l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。
l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！
2.5.3 整組電壓采集線的連接相比APD，MPPC的增益可達(dá)到1^5~1^6，這樣在理論上，可以在更短的時(shí)間內(nèi)得到更長(zhǎng)的距離信息，探測(cè)帶寬也與APD不相上下。另外，擁有小而有效麵積、更多像素結(jié)構(gòu)的MPPC不僅具備較快的時(shí)間特性（上升時(shí)間僅1納秒左右），還可利用它特的光子分辨能力，將不同表麵反射率的物體識(shí)彆出來(lái)，從而達(dá)到測(cè)距同時(shí)分辨物體表麵特性的目的。從這些性能上來(lái)看，MPPC非常適合脈衝測(cè)距法的應(yīng)用，是自動(dòng)駕駛上一維雷達(dá)的理想“小夥伴”。
l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。
l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾子）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！
2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。
2.5.5 請(qǐng)用戶仔細(xì)檢查接線是否正確，注意電池端子、電壓采集線端子、放電電流端子正、負(fù)極接線是否正確，嚴(yán)禁接反！
2.5.6 檢查無(wú)誤後，接通電源，測(cè)試儀開(kāi)始工作毋庸置疑，這種運(yùn)營(yíng)方式代價(jià)高昂，更不必說(shuō)這絕不可能是無(wú)懈可擊的全天候控製過(guò)程。多年來(lái)，采礦工業(yè)極為關(guān)心泄漏和水資源管理對(duì)環(huán)境的影響，並且一直在積極尋求改進(jìn)監(jiān)控方法?！笨紤]到這些需求，IntelliView開(kāi)發(fā)出一種行之有效的、能在數(shù)秒鐘之內(nèi)檢測(cè)和報(bào)警小規(guī)模地上液體泄漏、噴射和彙聚成池的方法。IntelliView的泄漏檢測(cè)解決方案采用新一代稱之為DCAM?(雙攝像頭模塊)的產(chǎn)品，一款將可見(jiàn)光相機(jī)和FLIR熱像儀與內(nèi)置型泄漏技術(shù)集於一體的緊湊型產(chǎn)品。18年1月3日，NI(美國(guó)儀器，NationalInstruments,簡(jiǎn)稱NI)作為致力於為工程師和科學(xué)家提供基於平臺(tái)的係統(tǒng)解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，宣布推出PXIe-4163高密度源測(cè)量單元(SMU)，該測(cè)量單元提供了比以往NIPXISMU高達(dá)6倍的直流通道密度，適用於測(cè)試RMEMS以及混合信號(hào)和其他模擬半導(dǎo)體元件。NI銷售和市場(chǎng)執(zhí)行副總裁EricStarkloff表示：“5物聯(lián)網(wǎng)和自動(dòng)駕駛汽車等性的技術(shù)發(fā)展給半導(dǎo)體企業(yè)帶來(lái)持續(xù)的壓力。