HN1016B蓄電池充放監(jiān)測一體機(jī) 蓄電池活化儀 蓄電池內(nèi)導(dǎo)測試儀 單體蓄電池放電測試儀 廠家供應(yīng)

該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電，單體監(jiān)測，智能充電於一體。一機(jī)多用，減少企業(yè)成本，降低維護(hù)人員勞動(dòng)強(qiáng)度，為電池和UPS電源維護(hù)提供科學(xué)的檢測手段。用於電信、、電力等部門。根據(jù)需要進(jìn)行深度放電，然後充電，使電池組隨時(shí)保持滿足狀態(tài)並延長電池壽命，是蓄電池維護(hù)工作的助手。 

蓄電池組充放檢電一體機(jī)=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測+蓄電池組活化.

和微波暗室的測試目的一樣，TEMCELL也是一個(gè)模擬理想空間的天線測試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的功能來消除外部乾擾對天線的影響，而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEMCELL不能對天線進(jìn)行無源測試，隻能對有源指標(biāo)進(jìn)行測試。由於空間限製，TEMCELL的吸波材料比較薄，而對於劈狀吸波材料，是通過劈尖間的多次反射增加對入射波進(jìn)行吸收，因此微波暗室裡的吸波材料都比較厚，而TEMCELL的吸波材料都不購厚，因此對入射波的吸收都不是很充分，因此會(huì)導(dǎo)致測試的結(jié)果不。

二、主要功能及特點(diǎn)

智能三階段充電；

1、充電功能：

a. 嚴(yán)格按照蓄電池充電特性曲線進(jìn)行自動(dòng)充電，設(shè)計(jì)的充電模式是“恒流→（均充穩(wěn)壓值）定壓減流→（自動(dòng)判彆轉(zhuǎn)為）涓流浮充”，具有充電速度快、充電還原效率高、無需人工值守、超長時(shí)間充電無過充電危險(xiǎn)、確保蓄電池使用壽命等優(yōu)點(diǎn);

b. 用戶設(shè)定好均充電壓、浮充電壓、單節(jié)電壓上限、充電電流、充電時(shí)間、充入容量等參數(shù)，測試儀便自動(dòng)執(zhí)行充電過程

2、放電功能：

a. 測試儀設(shè)有兩種放電方式，恒流放電和恒功率放電，用戶可根據(jù)自己需要選擇放電方式對電池組進(jìn)行放電試驗(yàn)

b. 用戶設(shè)定好整組電壓、放電容量、單體終止電壓、滿足條件單節(jié)數(shù)、放電時(shí)間等參數(shù)，測試儀自動(dòng)執(zhí)行放電試驗(yàn)，是世界上產(chǎn)量的化學(xué)產(chǎn)品之一，其生產(chǎn)能力是衡量一個(gè)石油化工發(fā)展水平的重要標(biāo)誌。裂解爐是生產(chǎn)裝置的核心設(shè)備，將天然氣、原油等各類原材料加工成裂解氣，提供給其它裝置，終加工成、丙烯及副產(chǎn)品，其生產(chǎn)能力及技術(shù)的高低，直接決定了整套裝置的生產(chǎn)規(guī)模和產(chǎn)品品質(zhì)。在裂解過程中，由於二次反應(yīng)，裂解爐管內(nèi)壁上和急冷換熱器的管內(nèi)壁上會(huì)產(chǎn)生結(jié)焦現(xiàn)象。隨著裂解的進(jìn)行，焦量不斷增加，直接影響管壁的導(dǎo)熱性能，造成局部過熱而燒壞設(shè)備，甚至堵塞爐管，引起事故。

3、在線監(jiān)測功能：

a. 在線監(jiān)測功能用來對電池組及單節(jié)電池進(jìn)行實(shí)時(shí)的監(jiān)測及極限報(bào)警提示；監(jiān)測信息包括整組電壓、單節(jié)電池電壓及監(jiān)測時(shí)間；用戶可通過設(shè)定終止監(jiān)測時(shí)間或人為終止操作停止在線監(jiān)測，也可通過設(shè)定整組及單體電壓報(bào)警極限提醒用戶電池狀態(tài)信息；

4、 恒流放電和恒功率放電；

5、在線實(shí)時(shí)監(jiān)測電池組及單節(jié)電池的電壓、電流、等參數(shù)；

6、儀表可以實(shí)時(shí)查看單體電池柱形圖，測試完成可以直接查看單體曲線及與參考曲線對比圖。主機(jī)內(nèi)置存儲(chǔ)器，可直接在主機(jī)讀取、存儲(chǔ)紀(jì)錄，無須攜帶電腦，單機(jī)即可工作；日後用電腦打印報(bào)告即可。

而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限於目前的測試係統(tǒng)，C3和串聯(lián)後的電容值是幾個(gè)pF的級彆，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負(fù)載電容量的影響在10%以上，終會(huì)導(dǎo)致測量結(jié)果產(chǎn)生幾個(gè)ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設(shè)計(jì)對晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個(gè)影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場測試，因?yàn)閮H在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。