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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的國際標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全
詳情介紹:

HN1016B蓄電池充放監(jiān)測一體機 蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全

蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電,單體監(jiān)測,智能充電於一體。一多用,減少企業(yè)成本,降低維護人員勞動強度,為電池和UPS電源維護提供科學(xué)的檢測手段。用於電信、、電力等部門。根據(jù)需要進行深度放電,然後充電,使電池組隨時保持滿足狀態(tài)並延長電池壽命,是蓄電池維護工作的助手。 

蓄電池組充放檢電一體機=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測+蓄電池組活化.

標準中均涉及一項重要測試即振動(複合溫度)試驗,本文以下將重點介紹利用艾德克斯IT6400係列電源,對**氣囊係統(tǒng)進行振動模擬測試。振動(複合溫度)試驗振動(複合溫度)試驗是將**氣囊係統(tǒng)置於一定的溫濕度條件下,同時按規(guī)定的周期將電振動應(yīng)力施加到待測**氣囊上,去模擬待測物在運輸過程中或者汽車行駛在不同道路狀況下對於**氣囊的振動疲勞破壞,更客觀評價**氣囊在溫濕度和振動複合環(huán)境下的適應(yīng)能力。實際工作過程中,**氣囊必須在通電狀態(tài)下才能發(fā)揮作用,因此如上圖表所示,檢測標準中均規(guī)定需“模擬工作狀態(tài)加載脈衝電流”。蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全

二、主要功能及特點

智能三階段充電;

1、充電功能:

a. 嚴格按照蓄電池充電特性曲線進行自動充電,設(shè)計的充電模式是“恒流→(均充穩(wěn)壓值)定壓減流→(自動判彆轉(zhuǎn)為)涓流浮充”,具有充電速度快、充電還原效率高、無需人工值守、超長時間充電無過充電危險、確保蓄電池使用壽命等優(yōu)點;

b. 用戶設(shè)定好均充電壓、浮充電壓、單節(jié)電壓上限、充電電流、充電時間、充入容量等參數(shù),測試儀便自動執(zhí)行充電過程

2、放電功能:

a. 測試儀設(shè)有兩種放電方式,恒流放電和恒功率放電,用戶可根據(jù)自己需要選擇放電方式對電池組進行放電試驗

b. 用戶設(shè)定好整組電壓、放電容量、單體終止電壓、滿足條件單節(jié)數(shù)、放電時間等參數(shù),測試儀自動執(zhí)行放電試驗,它確實會發(fā)生。發(fā)生這種情況後的係統(tǒng)行為將是不確定的,因為默認情況下內(nèi)存空間都是0FF,或者由於內(nèi)存區(qū)通常冇有寫過,其中的值可能隻有上帝才知道。不過有相當完備的linker或IDE技巧可以用來幫助識彆這樣的事件並從中恢複係統(tǒng)。技巧就是使用FILL命令對未用ROM填充已知的位模式。要填充未使用的內(nèi)存,有很多不同的可能組合可以使用,但如果是想建立更加可靠的係統(tǒng),明顯的選擇是在這些位置放置ISRfaulthandler。

3、在線監(jiān)測功能:

a. 在線監(jiān)測功能用來對電池組及單節(jié)電池進行實時的監(jiān)測及極限報警提示;監(jiān)測信息包括整組電壓、單節(jié)電池電壓及監(jiān)測時間;用戶可通過設(shè)定終止監(jiān)測時間或人為終止操作停止在線監(jiān)測,也可通過設(shè)定整組及單體電壓報警極限提醒用戶電池狀態(tài)信息;

4、 恒流放電和恒功率放電;

5、在線實時監(jiān)測電池組及單節(jié)電池的電壓、電流、等參數(shù);

6、儀表可以實時查看單體電池柱形圖,測試完成可以直接查看單體曲線及與參考曲線對比圖。主機內(nèi)置存儲器,可直接在主機讀取、存儲紀錄,無須攜帶電腦,單機即可工作;日後用電腦打印報告即可。

可靠性是對產(chǎn)品耐久力的測量,我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個階段:階段被稱為早期失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降,造成失效的原因在於IC設(shè)計和生產(chǎn)過程中的缺陷;階段被稱為偶然失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定,失效的原因往往是隨機的,比如溫度變化等等;階段被稱為損耗失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高,失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。蓄電池容量測試儀 蓄電池充電放電測試儀 蓄電池循環(huán)充放電測試儀 規(guī)格齊全

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