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HN1016B蓄電池充放監(jiān)測(cè)一體機(jī) 蓄電池活化儀 整組蓄電池充電放電測(cè)試儀 蓄電池充放電一體機(jī) 來(lái)電諮詢
該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電,單體監(jiān)測(cè),智能充電於一體。一機(jī)多用,減少企業(yè)成本,降低維護(hù)人員勞動(dòng)強(qiáng)度,為電池和UPS電源維護(hù)提供科學(xué)的檢測(cè)手段。用於電信、、電力等部門(mén)。根據(jù)需要進(jìn)行深度放電,然後充電,使電池組隨時(shí)保持滿足狀態(tài)並延長(zhǎng)電池壽命,是蓄電池維護(hù)工作的助手。
蓄電池組充放檢電一體機(jī)=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測(cè)+蓄電池組活化.
智能三階段充電;
1、充電功能:
a. 嚴(yán)格按照蓄電池充電特性曲線進(jìn)行自動(dòng)充電,設(shè)計(jì)的充電模式是“恒流→(均充穩(wěn)壓值)定壓減流→(自動(dòng)判彆轉(zhuǎn)為)涓流浮充”,具有充電速度快、充電還原效率高、無(wú)需人工值守、超長(zhǎng)時(shí)間充電無(wú)過(guò)充電危險(xiǎn)、確保蓄電池使用壽命等優(yōu)點(diǎn);
b. 用戶設(shè)定好均充電壓、浮充電壓、單節(jié)電壓上限、充電電流、充電時(shí)間、充入容量等參數(shù),測(cè)試儀便自動(dòng)執(zhí)行充電過(guò)程
2、放電功能:
a. 測(cè)試儀設(shè)有兩種放電方式,恒流放電和恒功率放電,用戶可根據(jù)自己需要選擇放電方式對(duì)電池組進(jìn)行放電試驗(yàn)
b. 用戶設(shè)定好整組電壓、放電容量、單體終止電壓、滿足條件單節(jié)數(shù)、放電時(shí)間等參數(shù),測(cè)試儀自動(dòng)執(zhí)行放電試驗(yàn),據(jù)統(tǒng)計(jì),在鐵路生產(chǎn)事故中,因防溜問(wèn)題而發(fā)生的事故約占8%左右,由於列車(chē)溜逸往往造成車(chē)輛脫線、顛覆、衝突等重大惡果,所以防溜工作出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致的生產(chǎn)事故中相當(dāng)比例為重大大事故。而鐵路沿線多的中間站,普遍生活艱苦,條件較差,作業(yè)隨意性大,實(shí)際作業(yè)流程與作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)相差甚遠(yuǎn),到目前為止,仍時(shí)常發(fā)生防溜措施不到位、防溜設(shè)備不及時(shí)撤除等**隱患。而智能防溜鐵鞋由於加裝了智能無(wú)線通信設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了對(duì)鐵鞋的遠(yuǎn)程智能化管理,而且還增加了防盜自動(dòng)報(bào)警功能,大大降低了人工管理的成本,而且相比人工管理,智能化管理更,更**。
3、在線監(jiān)測(cè)功能:
a. 在線監(jiān)測(cè)功能用來(lái)對(duì)電池組及單節(jié)電池進(jìn)行實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)及極限報(bào)警提示;監(jiān)測(cè)信息包括整組電壓、單節(jié)電池電壓及監(jiān)測(cè)時(shí)間;用戶可通過(guò)設(shè)定終止監(jiān)測(cè)時(shí)間或人為終止操作停止在線監(jiān)測(cè),也可通過(guò)設(shè)定整組及單體電壓報(bào)警極限提醒用戶電池狀態(tài)信息;
4、 恒流放電和恒功率放電;
5、在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電池組及單節(jié)電池的電壓、電流、等參數(shù);
6、儀表可以實(shí)時(shí)查看單體電池柱形圖,測(cè)試完成可以直接查看單體曲線及與參考曲線對(duì)比圖。主機(jī)內(nèi)置存儲(chǔ)器,可直接在主機(jī)讀取、存儲(chǔ)紀(jì)錄,無(wú)須攜帶電腦,單機(jī)即可工作;日後用電腦打印報(bào)告即可。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝後測(cè)試組成,晶圓製造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下麵集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成製程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控製測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey後,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。
100mA到1A是當(dāng)前大多數(shù)產(chǎn)品的電流範(fàn)圍,特彆是目前350mA(或者更確切地說(shuō),光電半導(dǎo)體結(jié)的電流密度為350mA/mm2)是熱管理和照明效率間常采納的折衷方案??匮uLED驅(qū)動(dòng)器的積體電路是矽基的,所以在1.25V的範(fàn)圍內(nèi)有一個(gè)典型的帶隙。要在1.25V處達(dá)到1%的容差,亦即需要±12.5mV的電壓範(fàn)圍。這並不難實(shí)現(xiàn),能達(dá)到這種容差或更好容差範(fàn)圍的低價(jià)電壓參考電路或電源控製IC種類(lèi)繁多,價(jià)格低廉。
二、主要功能及特點(diǎn)