HN1016B蓄電池充放監(jiān)測(cè)一體機(jī) 蓄電池充放電測(cè)試儀 整組蓄電池放電測(cè)試儀 單體蓄電池充放電測(cè)試儀 可定製

該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電，單體監(jiān)測(cè)，智能充電於一體。一機(jī)多用，減少企業(yè)成本，降低維護(hù)人員勞動(dòng)強(qiáng)度，為電池和UPS電源維護(hù)提供科學(xué)的檢測(cè)手段。用於電信、、電力等部門。根據(jù)需要進(jìn)行深度放電，然後充電，使電池組隨時(shí)保持滿足狀態(tài)並延長(zhǎng)電池壽命，是蓄電池維護(hù)工作的助手。 

蓄電池組充放檢電一體機(jī)=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測(cè)+蓄電池組活化.

由於需要連接至發(fā)動(dòng)機(jī)，所以TCU和變速箱位於發(fā)動(dòng)機(jī)室中或在發(fā)動(dòng)機(jī)室附近。但當(dāng)發(fā)動(dòng)機(jī)室內(nèi)達(dá)到溫度時(shí)，就會(huì)帶來損壞的風(fēng)險(xiǎn)。TCU模塊包含具有很多集成電路元件的電路板，如對(duì)高溫非常敏感的微控製器。許多MCU都具有某些形式的集成溫度傳感功能，但它們通常不夠，隻能達(dá)到TCU模塊整體溫度的粗略近似值。LM71-Q1是一種外部溫度傳感器，能夠通過串行外設(shè)接口(SPI)直接將溫度數(shù)據(jù)傳輸給MCU，這樣一來便無需使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器通道和/或查詢表。

二、主要功能及特點(diǎn)

智能三階段充電；

1、充電功能：

a. 嚴(yán)格按照蓄電池充電特性曲線進(jìn)行自動(dòng)充電，設(shè)計(jì)的充電模式是“恒流→（均充穩(wěn)壓值）定壓減流→（自動(dòng)判彆轉(zhuǎn)為）涓流浮充”，具有充電速度快、充電還原效率高、無需人工值守、超長(zhǎng)時(shí)間充電無過充電危險(xiǎn)、確保蓄電池使用壽命等優(yōu)點(diǎn);

b. 用戶設(shè)定好均充電壓、浮充電壓、單節(jié)電壓上限、充電電流、充電時(shí)間、充入容量等參數(shù)，測(cè)試儀便自動(dòng)執(zhí)行充電過程

2、放電功能：

a. 測(cè)試儀設(shè)有兩種放電方式，恒流放電和恒功率放電，用戶可根據(jù)自己需要選擇放電方式對(duì)電池組進(jìn)行放電試驗(yàn)

b. 用戶設(shè)定好整組電壓、放電容量、單體終止電壓、滿足條件單節(jié)數(shù)、放電時(shí)間等參數(shù)，測(cè)試儀自動(dòng)執(zhí)行放電試驗(yàn)，在應(yīng)答場(chǎng)裡，發(fā)送站發(fā)送兩個(gè)“隱性”位。當(dāng)接收器正確地接收到有效的報(bào)文，接收器就會(huì)在應(yīng)答間隙（ACKSLOT）期間（發(fā)送ACK信號(hào)）向發(fā)送器發(fā)送一“顯性”的位以示應(yīng)答。發(fā)送節(jié)點(diǎn)檢測(cè)到總線呈顯式狀態(tài)時(shí)，就認(rèn)為有節(jié)點(diǎn)進(jìn)行了有效的應(yīng)答並且自己所發(fā)出的幀是正常的。CAN總線位時(shí)間組成CAN網(wǎng)絡(luò)通信位定時(shí)參數(shù)如所示。位定時(shí)示意圖CAN總線通信中每一位的時(shí)間由4部分組成，即同步段、傳播段、相位緩衝段相位緩衝段2，劃分為3段。

3、在線監(jiān)測(cè)功能：

a. 在線監(jiān)測(cè)功能用來對(duì)電池組及單節(jié)電池進(jìn)行實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)及極限報(bào)警提示；監(jiān)測(cè)信息包括整組電壓、單節(jié)電池電壓及監(jiān)測(cè)時(shí)間；用戶可通過設(shè)定終止監(jiān)測(cè)時(shí)間或人為終止操作停止在線監(jiān)測(cè)，也可通過設(shè)定整組及單體電壓報(bào)警極限提醒用戶電池狀態(tài)信息；

4、 恒流放電和恒功率放電；

5、在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電池組及單節(jié)電池的電壓、電流、等參數(shù)；

6、儀表可以實(shí)時(shí)查看單體電池柱形圖，測(cè)試完成可以直接查看單體曲線及與參考曲線對(duì)比圖。主機(jī)內(nèi)置存儲(chǔ)器，可直接在主機(jī)讀取、存儲(chǔ)紀(jì)錄，無須攜帶電腦，單機(jī)即可工作；日後用電腦打印報(bào)告即可。

探傷儀器USIP40（GE）；探傷標(biāo)準(zhǔn)按AMS2631DclassA1，標(biāo)準(zhǔn)人工傷φ1.2-9dB檢測(cè)，對(duì)報(bào)警處標(biāo)記位置進(jìn)行標(biāo)識(shí)。該缺陷截麵距離邊部38mm（離棒材幾何中心2mm）。見圖。圖自動(dòng)探傷截圖低倍解剖。發(fā)現(xiàn)距中心處2mm有明顯亮斑點(diǎn)顯示圖低倍解剖觀察距中心2mm處有明顯亮斑點(diǎn)。圖放大200倍高倍發(fā)現(xiàn)缺陷部位有明顯亮斑在放大200倍觀察，解剖報(bào)警處發(fā)現(xiàn)亮斑痕跡，亮斑組織和正常組織有明顯差異。