2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

很多產(chǎn)品在做產(chǎn)品**認(rèn)證時(shí)都會(huì)遇到產(chǎn)品測(cè)試不合格的情況，尤其是在電磁兼容測(cè)試（即EMC測(cè)試）出錯(cuò)頻率更是普遍。當(dāng)產(chǎn)品一旦測(cè)試不合格，那麼隨之而來(lái)的肯定是EMC整改通知書。在EMC整改過(guò)程中很多管理人和技術(shù)人員並不太明白該從何處入手？作為產(chǎn)品質(zhì)量**認(rèn)證重要指標(biāo)之一的EMC測(cè)試，通過(guò)測(cè)試產(chǎn)品在電磁方麵的乾擾大小和抗乾擾能力的綜合評(píng)定。下麵將EMC整改常遇到的問(wèn)題和一些整改建議。我們來(lái)從EMC測(cè)試項(xiàng)目構(gòu)成說(shuō)起，EMC主要包含兩大項(xiàng)：EMI（乾擾）和EMS（產(chǎn)品抗乾擾和敏感度）。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過(guò)RS485接口連接一起。

摩爾定律美國(guó)人高登摩爾提出摩爾定律，即微處理器的速度每18個(gè)月翻一翻。這意味著同等價(jià)位的微處理器速度會(huì)變得越來(lái)越快，同等速度的微處理器會(huì)變得越來(lái)越便宜。作為迄今為止半導(dǎo)體發(fā)展意義深遠(yuǎn)的摩爾定律，集成電路數(shù)十年的發(fā)展曆程，令人信服地證實(shí)了它的正確性。它並不是嚴(yán)格的物理定律，而是基於一種幾乎不可思議的技術(shù)進(jìn)步現(xiàn)象所做出的總結(jié)。在過(guò)去10年中，摩爾定律所描述的技術(shù)進(jìn)步不斷衝擊著計(jì)算機(jī)工業(yè)：晶體管越做越小，芯片性能越來(lái)越高，計(jì)算能力呈指數(shù)增長(zhǎng)，生產(chǎn)成本和使用費(fèi)用不斷降低。