2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶(hù)拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

當(dāng)然，你可以?xún)纱畏謴暅y(cè)不同的點(diǎn)，然後比較，或者用李育沙法測(cè)兩個(gè)信號(hào)的相位差。這是因?yàn)闉榱吮ＷC電氣上的**，多數(shù)電子儀器都通過(guò)電源線與**地線相連。示波器，信號(hào)發(fā)生器，穩(wěn)壓電源等的地線同樣到了**地，所以這兩個(gè)地是連著的，如果將示波器的地連在電路的其他位置，而不是信號(hào)源的地所連在的地方，則有一部分電路會(huì)短路。雙蹤示波器有兩個(gè)，可以同時(shí)測(cè)量?jī)蓚€(gè)信號(hào)，但這兩個(gè)的地線都與示波器的**地相連接，所以?xún)蓚€(gè)的地線不能同時(shí)接在某一電路的不同兩點(diǎn)上，否則將使這兩點(diǎn)通過(guò)示波器發(fā)生電氣短路。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶(hù)設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過(guò)RS485接口連接一起。

係統(tǒng)描述AOI是檢測(cè)PCB表麵圖形品質(zhì)(如表麵缺陷、斷路和短路)的設(shè)備，用於生產(chǎn)過(guò)程中半成品品質(zhì)檢測(cè)，是高精密單層印製板，尤其是多層印製板加工的關(guān)鍵技術(shù)。測(cè)試係統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識(shí)彆診斷算法和計(jì)算機(jī)技術(shù)於一體。檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)電荷耦合器件(CCD)或激光自動(dòng)掃描PCB，采集圖像後送與計(jì)算機(jī)處理，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，查出PCB上缺陷，用顯示器或自動(dòng)標(biāo)識(shí)係統(tǒng)顯示或標(biāo)識(shí)缺陷，供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備：研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組，支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等係列CPU的高性能平臺(tái)；支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條，總?cè)萘恐С?GB；板載1個(gè)1/1/1Mbps網(wǎng)絡(luò)接口；支持VGA+VGA雙顯示功能；支持4個(gè)SATA接口；USB2.接口、2個(gè)串口(其中1個(gè)支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個(gè)並口等豐富的I/O接口。