2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

大陸封測(cè)產(chǎn)業(yè)的機(jī)遇摩爾定律由英特爾創(chuàng)始人之一戈登摩爾提出，大致意思為，每隔18-24個(gè)月在價(jià)格不變的情況下，集成電路上可容納的元器件數(shù)目會(huì)翻一倍，性能也將提升一倍。這一定律統(tǒng)治了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)50多年，近些年卻屢屢被預(yù)估將要走向終結(jié)，而者中甚至包括摩爾本人。而這條金科玉律走向末路的佐證之一便是英特爾修改了基於摩爾定律的“Tick-Tock”策略，將這一架構(gòu)和工藝交替升級(jí)策略的研發(fā)周期在時(shí)間上從兩年延長(zhǎng)至三年，製程工藝變?yōu)槿簧?jí)，並且其10nm製程一直跳票。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過RS485接口連接一起。

燒錄器的功能很簡(jiǎn)單、很專一，那就是把數(shù)據(jù)完完整整、重複地複製到每一顆芯片上，複製成功了就提示Pass，複製失敗了就提示Fail；SmartPRO6000F-Plus是一臺(tái)全心專注於高品質(zhì)、率的Flash燒錄編程器；目前為止，有廣泛的、的燒錄客戶群，軟件、硬件和算法都是客戶批量生產(chǎn)驗(yàn)證過的，非常成熟。那問題究竟出在哪裡呢，讓我們繼續(xù)看吧。先友情提醒一下，我們的燒錄軟件做有一個(gè)監(jiān)控“電子眼”(操作日記)，時(shí)刻記錄著客戶對(duì)每顆芯片的燒錄情況；客戶有任何違規(guī)操作或者燒錄異?，F(xiàn)象，我們都可以迅速重返到“案發(fā)現(xiàn)場(chǎng)”，找到問題的根源；我們時(shí)間讓客戶把操作日記發(fā)過來，從操作日記上看，客戶反饋的現(xiàn)象確實(shí)存在，日誌也幫助我們很快找到了這種異常：但是這種現(xiàn)象並不是因?yàn)闊浧髟斐?，而是芯片本身存在的工藝差異原因?qū)е碌?；可能有人就?huì)馬上反駁，明顯地出現(xiàn)如此高的燒錄率，編程器原廠就冇有任何責(zé)任，而是一句話就把問題推到芯片原廠？不要著急，繼續(xù)往下看。