2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

而對(duì)於支撐端到端傳輸?shù)幕A(chǔ)網(wǎng)絡(luò)而言，低延時(shí)（微秒級(jí)）、無(wú)損（lossless）則是重要的指標(biāo)。低延時(shí)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)主要產(chǎn)生在設(shè)備節(jié)點(diǎn)（這裡忽略了光電傳輸延時(shí)和數(shù)據(jù)串行延時(shí)），設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)包括以下三部分：存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)：芯片轉(zhuǎn)發(fā)線處理延遲，每個(gè)hop會(huì)產(chǎn)生1微秒左右的芯片處理延時(shí)（業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式，單跳延遲可以降低到0.3微秒左右）；Buffer緩存延時(shí)：當(dāng)網(wǎng)絡(luò)擁塞時(shí)，報(bào)文會(huì)被緩存起來(lái)等待轉(zhuǎn)發(fā)。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過(guò)RS485接口連接一起。

是全實(shí)物測(cè)試，將待測(cè)裝備置於演習(xí)或?qū)嶋H戰(zhàn)區(qū)，利用實(shí)際存在的複雜電磁環(huán)境對(duì)裝備性能進(jìn)行測(cè)試。此種方式具說(shuō)服力，通常作為成熟型號(hào)裝備的終測(cè)試方法。因?yàn)榇朔绞匠杀緲O高、風(fēng)險(xiǎn)大，很多場(chǎng)合是破壞性測(cè)試，並且所得到測(cè)試結(jié)果不具備遍曆性，無(wú)法滿足裝備研製過(guò)程中的絕大多數(shù)的常規(guī)測(cè)試需求。種是基於計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)庫(kù)等技術(shù)的全數(shù)字仿真測(cè)試。這種技術(shù)是通過(guò)數(shù)據(jù)采集或者數(shù)學(xué)建模的方式，將實(shí)際電磁環(huán)境的主要特征信息以數(shù)字格式存儲(chǔ)於數(shù)據(jù)庫(kù)中，在某種特定仿真算法的驅(qū)動(dòng)下，對(duì)待測(cè)裝備的性能進(jìn)行全數(shù)字仿真測(cè)試。