HN7062A變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 (容量，空負(fù)載測(cè)試儀 ）變壓器容量特性測(cè)試儀 變壓器綜合參數(shù)測(cè)試儀 HN7012A 大量供應(yīng)

設(shè)備相當(dāng)於四種設(shè)備：有源變壓器容量測(cè)試儀 +變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 +諧波儀 +示波器。它可對(duì)變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一係列工頻參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，並能測(cè)量空負(fù)載試驗(yàn)時(shí)的電壓、電流失真度和諧波含量，還可以進(jìn)行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口，菜單操作並配有漢字提示，集多參量於一屏的顯示界麵，人機(jī)對(duì)話界麵友好，使用簡(jiǎn)便、快捷，是各級(jí)電力用戶的采購(gòu)產(chǎn)品。兼具高精度與能量回收之特色，落實(shí)綠色製造Chroma170116V/100A測(cè)試係統(tǒng)具備能量再生功能，能夠回收直流能量(DC-DC)，一旦直流能量溢出，係統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換回交流電網(wǎng)，是一個(gè)低發(fā)熱、率運(yùn)用的測(cè)試係統(tǒng)。Chroma17011產(chǎn)品具有多電流量程提高電流精度，電流量測(cè)精度達(dá)到±0.05%ofF.S.，電壓精度達(dá)到±(0.02%ofRdg.+0.02%ofF.S.)，每個(gè)通道立控製且具備熱管理機(jī)製保障量測(cè)穩(wěn)定性，快速電流響應(yīng)可模擬脈衝或車況模擬，其采樣速度快可達(dá)10mS，同時(shí)可整合氣候溫箱進(jìn)行測(cè)試控製，**性方麵設(shè)計(jì)有多層保護(hù)功能，自主檢測(cè)提前發(fā)現(xiàn)異常避免實(shí)驗(yàn)風(fēng)險(xiǎn)。

主菜單共有五個(gè)可選項(xiàng)，分彆為：容量測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、空載測(cè)試、曆史數(shù)據(jù)。需要選擇就用手觸摸相應(yīng)的圖標(biāo)，下端顯示當(dāng)前的日期時(shí)間、內(nèi)部電池的電壓幅值和剩餘電量百分比，從而可以及時(shí)掌握儀器的電池電量情況，了解儀器是否要充電避免冇有及時(shí)充電而在現(xiàn)場(chǎng)無(wú)法正常工作的情況。發(fā)動(dòng)機(jī)爆震傳感器的用途是通過(guò)監(jiān)控發(fā)動(dòng)機(jī)振動(dòng)來(lái)提高發(fā)動(dòng)機(jī)效率和性能。發(fā)動(dòng)機(jī)控製單元(ECU)使用該數(shù)據(jù)調(diào)整燃油空氣比，以減少“發(fā)動(dòng)機(jī)發(fā)出碰撞聲”並更正發(fā)動(dòng)機(jī)正時(shí)。TI的TPIC811可用作此類發(fā)動(dòng)機(jī)爆震傳感器的信號(hào)調(diào)節(jié)器。新型解決方案有時(shí)會(huì)將該功能集成到發(fā)動(dòng)機(jī)ECU的一個(gè)MCU中，不過(guò)，這意味著可能更多地以遠(yuǎn)程方式完成該處理過(guò)程（由於微控製器較低的溫度等級(jí)），這可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)劣化。可通過(guò)查看來(lái)自爆震傳感器的信號(hào)的提取情況（與係統(tǒng)的噪聲相比）來(lái)驗(yàn)證TPIC811的性能。

各功能選項(xiàng)的用途分彆為：

容量測(cè)試：用來(lái)測(cè)量變壓器的容量值。

負(fù)載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的負(fù)載測(cè)試

空載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的空載試驗(yàn)。

曆史數(shù)據(jù)：查看已保存的測(cè)試結(jié)果記錄。

係統(tǒng)設(shè)置：設(shè)置儀器的參數(shù)，及廠家出廠調(diào)

下麵介紹每個(gè)界麵的操作方法和儀器接線方法

1、 容量測(cè)試界麵低功率的設(shè)備更適合使用低功率的電源。，電流一旦超過(guò)20mA就會(huì)損壞LED陣列樣品。此時(shí)需要電源能夠通過(guò)CV/CC跳變或OCP來(lái)限製電流，從而保護(hù)設(shè)備。CV/CC跳變可將電流保持在限定範(fàn)圍內(nèi)，防止出現(xiàn)過(guò)流情況。消除了過(guò)流情況，電源就會(huì)回到正常的工作狀態(tài)。圖1是把電流限製在20mA以下的一個(gè)簡(jiǎn)單示例。圖1：表征CC極限值小於20mA的小型LED陣列的電壓和電流OCP是一種閉鎖功能。一旦電流超過(guò)20mA，輸出就會(huì)設(shè)為0伏並保持在零位。

1）實(shí)驗(yàn)接線方法

容量測(cè)試儀配有三把測(cè)試鉗（黃、綠、紅），每隻鉗子分彆引出兩根測(cè)試線，一根粗線、一根細(xì)線，粗線接到儀器麵板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電流端子（Ia、Ib、Ic），細(xì)線接到儀器麵板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電壓端子（Ua、Ub、Uc），將鉗頭按顏色分彆夾在被試變壓器的高壓側(cè)各相接線柱上，變壓器的低壓側(cè)要用短接線良好短接。

2）界麵操作

容量測(cè)試設(shè)置界麵如圖，項(xiàng)目有：一次電壓，二次電壓，變壓器類型，阻抗電壓，當(dāng)前溫度，矯正溫度，連接組彆，標(biāo)稱容量，變壓器編號(hào)，測(cè)試人員。點(diǎn)擊確定開始測(cè)試。點(diǎn)擊返回，返回主界麵

各項(xiàng)參數(shù)的含義和作用如下：當(dāng)然，如果設(shè)備在208/230Vac輸入下運(yùn)行，則上述所有測(cè)試更容易通過(guò)。通常情況下，設(shè)備製造商通過(guò)安裝備用電池或UPS（不間斷電源）來(lái)實(shí)現(xiàn)將交流電源中斷5秒的後測(cè)試。在電源內(nèi)部添加足夠大的儲(chǔ)能電解電容會(huì)導(dǎo)致尺寸明顯增大。如前所述，風(fēng)險(xiǎn)必須由設(shè)備製造商進(jìn)行。是否接受低於的判斷標(biāo)準(zhǔn)將始終取決於終應(yīng)用，以及是否會(huì)發(fā)生危害。IEC發(fā)布的條件更加嚴(yán)苛的第四版器械EMC標(biāo)準(zhǔn)IEC60601-1-2，近年在各國(guó)陸續(xù)正式實(shí)施。

一次電壓：變壓器高壓測(cè)電壓值，指被試變壓器施壓側(cè)的額定電壓值。用於區(qū)彆不同電壓等級(jí)的變壓器；相同容量、不同電壓等級(jí)變壓器的短路試驗(yàn)參數(shù)值是不同的；要做到準(zhǔn)確判斷，就必須輸入被試變壓器的高壓側(cè)額定電壓。點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤，輸入一次電壓值，默認(rèn)為10KV。在實(shí)際應(yīng)用中測(cè)量的電阻電壓越低，熱電效應(yīng)就越顯著。所以這個(gè)電壓的影響取決於具體的應(yīng)用。用戶的硬件係統(tǒng)很少有能力能消除熱電動(dòng)勢(shì)電壓，因?yàn)樵谟美^電器係統(tǒng)模擬電阻時(shí)就應(yīng)該考慮到這一點(diǎn)?；独^電器的高精度程控電阻模塊具有熱電動(dòng)勢(shì)的是40-260，40-261，40-262，40-263和40-265。40-297係列具有低的熱電動(dòng)勢(shì)，因?yàn)樗褂玫脑O(shè)計(jì)方法可以儘量的減少熱電效應(yīng)，但是有更多的繼電器串聯(lián)。

二次電壓：變壓器低壓測(cè)電壓值，點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤，輸入二次電壓值，默認(rèn)為0.4KV。變壓器類型：指變壓器的不同類型。（不是變壓器形式），主要有8中類型，1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電，2油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力，3油式有載調(diào)壓配電，4油式有載調(diào)壓電力，5乾式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電，6乾式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力，7乾式有載調(diào)壓配電，8乾式有載調(diào)壓電力。點(diǎn)擊黃色輸入框，出現(xiàn)下拉菜單，選擇點(diǎn)擊相應(yīng)的變壓器類型。默認(rèn)為類型1(即1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電)。

分工頻耐壓試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)兩種。工頻耐壓試驗(yàn)其試驗(yàn)電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍，不低於1000V。其加壓時(shí)間：對(duì)於以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘，對(duì)於以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘，對(duì)於電壓互感器為3分鐘，對(duì)於油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗(yàn)：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行，從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā)，可以有效地發(fā)現(xiàn)局部遊離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。