HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應 衝擊電壓測試係統(tǒng) 串聯(lián)諧振試驗設(shè)備 過電壓保護器測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

示波器是一種常用的電子測量儀器，主要由示波管、水平放大器、豎直放大器、掃描發(fā)生器、觸發(fā)同步、直流電源等組成。我們在使用示波器的時候?qū)妒静ㄆ黠@波形原理是什麼都了解過嗎?下麵小編就來為大家具體介紹一下吧。示波管是示波器的關(guān)鍵部件，當電子槍被加熱發(fā)出電子束後，經(jīng)電場加速打在熒光屏上就形成一個亮點，電子束在到達熒光屏之前要經(jīng)過兩對相互垂直的電偏轉(zhuǎn)板，如果冇有偏轉(zhuǎn)電場的作用，電子束將打在熒光屏的;如果施加了偏轉(zhuǎn)電場，電子束(亮點)的位置就會發(fā)生偏移。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

LED日光燈電源發(fā)熱到一定程度會導致燒壞，關(guān)於這個問題，也見到過有人在行業(yè)論壇發(fā)過貼討論過。本文將從芯片發(fā)熱、功率管發(fā)熱、工作頻率降頻、電感或者變壓器的選擇、LED電流大小等方麵討論LED日光燈電源發(fā)熱燒壞MOS管技術(shù)。芯片發(fā)熱本次內(nèi)容主要針對內(nèi)置電源調(diào)製器的高壓驅(qū)動芯片。假如芯片消耗的電流為2mA，300V的電壓加在芯片上麵，芯片的功耗為0.6W，當然會引起芯片的發(fā)熱。驅(qū)動芯片的電流來自於驅(qū)動功率MOS管的消耗，簡單的計算公式為I=cvf（考慮充電的電阻效益，實際I=2cvf，其中c為功率MOS管的cgs電容，v為功率管導通時的gate電壓，所以為了降低芯片的功耗，必須想辦法降低v和f.如果v和f不能改變，那麼請想辦法將芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入額外的功耗。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

擋發(fā)動機約2500r/min運轉(zhuǎn)；2擋發(fā)動機約1000r/min運轉(zhuǎn)；1擋發(fā)動機約2500r/min運轉(zhuǎn)；倒擋發(fā)動機1000r/min運轉(zhuǎn)；其壓力值均應為360-490kPa。強迫降擋製動油壓測試：將變速手柄置於2擋，使發(fā)動機怠速運轉(zhuǎn)，其油壓值應為100-200kPa；將OD開關(guān)接通，手柄掛入4擋，發(fā)動機約2500r/min運轉(zhuǎn)；將OD開關(guān)關(guān)閉，手柄掛入3擋，發(fā)動機約在2500r/min運轉(zhuǎn)；將手柄掛入2擋，發(fā)動機約在1000r/min下運轉(zhuǎn)，其值均應為830-900kPa。