HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
價(jià)格 雷電衝擊電壓發(fā)生器 發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置 交流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

缺相運(yùn)行是電機(jī)的頭號殺手，然而，電機(jī)堵轉(zhuǎn)對電機(jī)造成的危害卻也不容忽視。對於線，一旦電機(jī)長時(shí)間堵轉(zhuǎn)，將燒壞電機(jī)乃至損壞設(shè)備，造成不可挽回的損失。電機(jī)的堵轉(zhuǎn)保護(hù)很有必要，而保護(hù)的整定則要從電機(jī)的堵轉(zhuǎn)測試開始。電機(jī)堵轉(zhuǎn)即電機(jī)在零轉(zhuǎn)速時(shí)依然輸出扭矩的一種狀態(tài)，一般都是異物，機(jī)械損傷或者人為造成的。當(dāng)電機(jī)負(fù)載過大、異物卡死、拖動(dòng)設(shè)備機(jī)械故障、軸承損傷等，都會(huì)造成電機(jī)無法啟動(dòng)或者停止轉(zhuǎn)動(dòng)。電機(jī)正常轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，定子產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)磁場帶動(dòng)著轉(zhuǎn)子跟隨磁場旋轉(zhuǎn)方向轉(zhuǎn)動(dòng)，轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)過程中，切割磁感線而產(chǎn)生感應(yīng)電流，感應(yīng)電生的磁場隨著轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)，也在定子中產(chǎn)生反向的感應(yīng)電流，從而定子繞組的電流。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

可在惡劣天氣下使用。堅(jiān)固耐用、全天候應(yīng)用。設(shè)計(jì)緊湊、易於使用。選擇32×24或64×48熱分辨率；選擇的分辨率越高，圖像細(xì)節(jié)和距離性能更優(yōu)。mm到1mm的可更換鏡頭。紅外夜視儀讓您能夠在漆黑的環(huán)境下看清物體。高達(dá)2倍，4倍的電子變焦讓您能夠獲得更多細(xì)節(jié)信息。捕獲靜態(tài)圖像和。電子變焦4倍電子變焦產(chǎn)品圖例可切換鏡頭應(yīng)用領(lǐng)域人員和搜救組織難以組織難以在漆黑環(huán)境中或惡劣天氣下尋找失蹤人員。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)

很多人對直角走線都有這樣的理解，認(rèn)為容易發(fā)射或接收電磁波，產(chǎn)生EMI，這也成為許多人認(rèn)為不能直角走線的理由之一。然而很多實(shí)際測試的結(jié)果顯示，直角走線並不會(huì)比直線產(chǎn)生很明顯的EMI。也許目前的儀器性能，測試水平製約了測試的性，但至少說明了一個(gè)問題，直角走線的輻射已經(jīng)小於儀器本身的測量誤差?？偟恼f來，直角走線並不是想象中的那麼可怕。至少在GHz以下的應(yīng)用中，其產(chǎn)生的任何諸如電容，反射，EMI等效應(yīng)在TDR測試中幾乎體現(xiàn)不出來，高速PCB設(shè)計(jì)工程師的重點(diǎn)還是應(yīng)該放在布局，電源/地設(shè)計(jì)，走線設(shè)計(jì)，過孔等其他方麵。