HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 雷電衝擊發(fā)生器 串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置 超低頻耐壓測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

當(dāng)轉(zhuǎn)換開關(guān)K與零線接通時(shí)，測試儀所采樣的是中線與外殼間的泄漏電流；當(dāng)K與相線接通時(shí)，測試的是相線與外殼間的泄漏電流。必須注意的是：K與零線接通或K與相線接通，泄漏電流不一定相同。這是因?yàn)榧矣秒娖鹘^緣弱點(diǎn)的位置是隨機(jī)的。泄漏電流測試應(yīng)通過K轉(zhuǎn)換極性，取其中的較大值作為被測電熱的泄漏電流值。測試注意事項(xiàng)在工作溫度下測量泄漏電流時(shí)，如果被測電器不是通過隔離變壓器供電，被測電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

此類紅外熱像儀不需要製冷，且成本比量子探測器紅外熱像儀低。製冷型量子探測器采用銻化銦(InSb)、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格製成。這類探測器為光電探測器，即光子撞擊像素點(diǎn)，轉(zhuǎn)化為可存儲於積分電容器的電子。像素采用的電子快門，通過斷開或短路積分電容器來控製快門。量子探測器在本質(zhì)上比微測輻射熱計(jì)的速度要快，主要原因是微測輻射熱計(jì)必須要改變溫度。與改變像素溫度相反的是，量子探測器是將能量加到半導(dǎo)體中的電子裡，提至高於進(jìn)入導(dǎo)電帶的探測器能量帶隙，根據(jù)探測器的不同設(shè)計(jì)，可以測量為探測器電壓或電流的變化。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)

測量勵(lì)磁線圈對地(測線號“1”和“7”或“8”)絕緣電阻來判斷傳感器是否受潮，電阻值應(yīng)大於20兆歐。測量電極與液體接觸電阻值(測線號“1”和“2”及“1”和“3”)，間接評估電極、襯裡層表麵大體狀況。如電極表麵和襯裡層是否附著沉積層，沉積層是具有導(dǎo)電性還是絕緣性。它們之間的電阻值應(yīng)在1千歐~1兆歐之間，並且線號“1”和“2”及“1”和“3”的電阻值應(yīng)大致對稱。關(guān)閉管路上的閥門，檢查智能電磁流量計(jì)在充滿液體且液體無流動的情況下的整機(jī)零點(diǎn)。