HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗(yàn) 衝擊電流發(fā)生器 乾式試驗(yàn)變壓器 CVT諧振耐壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

具有省電、性能穩(wěn)定、體積小、承載能力大，比一般電磁繼電器性能優(yōu)越的特點(diǎn)。根據(jù)繼電器的型號(hào)不同，可以是交流電壓，也可以是直流電壓。下麵我們主要介紹一款需要直流電壓供電的磁保持繼電器的測(cè)試方法。IT64係列LIST功能IT64係列是四象限電源，具有l(wèi)ist功能，可按照程序所編的電壓電流值輸出。單通道輸出功率15W，電壓可達(dá)±6V，電流±1A，雙極性雙範(fàn)圍輸出。LIST功能實(shí)測(cè)案例以下是測(cè)試要求：磁保持繼電器的老化測(cè)試，就是重複讓產(chǎn)品斷開和閉合，進(jìn)行老化測(cè)試。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

我們離物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代越來(lái)越近，搭配5G通訊的催化下，穿戴式裝置已走向你我的身邊。世界各大電子消費(fèi)性廠商紛紛的投入相關(guān)領(lǐng)域，如ApplSamsun華為等。低功耗、能產(chǎn)品也不斷的推出，如眼鏡、手表、衣服……除此之外，也利用高科技從事智能化監(jiān)控，常見的如心率、血壓、步率……量測(cè)挑戰(zhàn)穿戴式裝置對(duì)廠商來(lái)說(shuō)除了功能夠先進(jìn)與實(shí)用來(lái)取得消費(fèi)者的喜愛外，麵臨另一挑戰(zhàn)就是如何使穿戴式裝置能體積極小化與長(zhǎng)時(shí)間使用。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

4051係列信號(hào)/頻譜儀4051L單機(jī)輕鬆實(shí)現(xiàn)67GHz信號(hào)。4051L是國(guó)內(nèi)一款同軸覆蓋到67GHz的高性能信號(hào)/頻譜儀，67GHz的顯示平均噪聲電平達(dá)-135dBm/Hz(典型值)，是業(yè)內(nèi)的接收靈敏度。同軸測(cè)量相對(duì)於外部頻率擴(kuò)展測(cè)量靈敏度高、測(cè)量速度快、頻譜純淨(jìng)、幅度測(cè)量精度高。同軸連接使用電纜數(shù)量少，減少了因?yàn)槭浜碗娎|損耗引起的測(cè)試不確定度，提高毫米波段的測(cè)試精度，減少誤測(cè)，提高產(chǎn)品的質(zhì)量，保證了研發(fā)和測(cè)試的順利進(jìn)展和成本降低。