HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
現(xiàn)貨供應(yīng) 雷電衝擊發(fā)生器 變頻諧振串聯(lián)諧振 超低頻耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

磁保持繼電器是近幾年發(fā)展起來的一種新型的繼電器，也是一種自動(dòng)開關(guān)。和其他電磁繼電器一樣，對(duì)電路起著自動(dòng)接通和切斷作用。所不同的是，磁保持繼電器的常閉或常開狀態(tài)完全是依賴磁鋼的作用，其開關(guān)狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是靠一定寬度的脈衝電信號(hào)觸發(fā)而完成的。磁保持繼電器分為單相和三相。據(jù)有關(guān)資料介紹，目前市場(chǎng)上的磁保持繼電器的觸點(diǎn)轉(zhuǎn)換電流可達(dá)15A;控製線圈電壓分為DC9V、DC12V等。一般電器壽命1次;機(jī)械壽命1次;觸點(diǎn)接觸壓降1mV。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

ZLG推出一款雙通道熱電阻隔離測(cè)溫模塊TPS02R，轉(zhuǎn)為敏感電路而設(shè)計(jì)，充分考慮50Hz工頻乾擾，如，我司采用多種方案工頻乾擾，使得TPS02R模塊分辨率可達(dá)0.01℃，且可以長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。TPS02R係統(tǒng)方案如上圖係統(tǒng)方案所示，針對(duì)50Hz工頻乾擾，在“基準(zhǔn)緩衝電路”中，采用硬件濾波電路，降低50Hz工頻對(duì)ADC芯片基準(zhǔn)電壓的影響。如，本質(zhì)上是一個(gè)電壓跟隨緩衝電路結(jié)合低通濾波器，R1C1針對(duì)50Hz濾波，R2R3C2C3針對(duì)50Hz高次諧波的過濾。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

一個(gè)良好的接地係統(tǒng)，會(huì)給測(cè)量上減少很多不必要的麻煩，儀器設(shè)備要正常使用必須保證良好的接地，良好的接地有多種目的：有追求**的、有追求電路穩(wěn)定的，主要有如下幾點(diǎn)：將機(jī)器接地，在漏電情況下可以使儀器殼體不會(huì)帶電，使用更加**；建立一個(gè)零電壓基準(zhǔn)點(diǎn)或者一個(gè)回路路徑給整合在一起的各訊號(hào)，以達(dá)正常測(cè)量目的；接地良好可以有效電場(chǎng)和磁場(chǎng)的乾擾，包括外界對(duì)儀器的乾擾，儀器電源對(duì)測(cè)量的乾擾，儀器對(duì)外部的乾擾。