HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓發(fā)生裝置 試驗(yàn)變壓器 工頻交流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

Mentor嵌入式多核框架能消除異構(gòu)硬件和軟件環(huán)境的管理複雜性，從而簡(jiǎn)化SoC係統(tǒng)設(shè)計(jì)異構(gòu)多處理對(duì)於當(dāng)今的嵌入式應(yīng)用來(lái)說(shuō)正變得越來(lái)越重要。片上係統(tǒng)(SoC)架構(gòu)，賽靈思的ZynqUltraScale+MPSoC提供包含四個(gè)ARMCortex-A53內(nèi)核以及兩個(gè)ARMCortex-R5內(nèi)核的強(qiáng)大異構(gòu)多處理基礎(chǔ)架構(gòu)。除了核心的計(jì)算基礎(chǔ)架構(gòu)外，SoC還包含一係列豐富的硬化外設(shè)IP和FPGA架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)靈活的設(shè)計(jì)模式，從而幫助係統(tǒng)開(kāi)發(fā)人員創(chuàng)建高性能多處理係統(tǒng)。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

靈敏度的選擇通常，在傳感器的線性範(fàn)圍內(nèi)，希望傳感器的靈敏度越高越好。因?yàn)殡b有靈敏度高時(shí)，與被測(cè)量變化對(duì)應(yīng)的輸出信號(hào)的值才比較大，有利於信號(hào)處理。但要注意的是，傳感器的靈敏度高，與被測(cè)量無(wú)關(guān)的外界噪聲也容易混入，也會(huì)被放大係統(tǒng)放大，影響測(cè)量精度。要求傳感器本身應(yīng)具有較高的信噪比，儘員減少?gòu)耐饨缫氲膹S擾信號(hào)。傳感器的靈敏度是有方向性的。當(dāng)被測(cè)量是單向量，而且對(duì)其方向性要求較高，則應(yīng)選擇其它方向靈敏度小的傳感器；如果被測(cè)量是向量，則要求傳感器的交叉靈敏度越小越好。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

汽車CAN總線設(shè)計(jì)規(guī)範(fàn)對(duì)於CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電容有著嚴(yán)格的規(guī)定，每個(gè)節(jié)點(diǎn)不允許添加過(guò)多容件，否則節(jié)點(diǎn)組合到一起後，會(huì)導(dǎo)致總線波形畸變，通訊錯(cuò)誤增加。具體如表1所示。為汽車測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GMW3122中的輸入電容標(biāo)準(zhǔn)。所以每個(gè)廠家在上車前，都要測(cè)試CAN節(jié)點(diǎn)DUT（被測(cè)設(shè)備）的CANH對(duì)地、CANL對(duì)地、CANH對(duì)CANL的輸入電容。方法一般是使用GMW3122汽車測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中的CAN方法。如圖所示。表1GMW3122輸入電容標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電容放電時(shí)間定義T=0.721*（t2-t1）Cbusin和Cin測(cè)試原理（ECU輸出線從上往下為CANCANL、GND）Cbusin1=/RiCin=/2RiCdiff測(cè)試原理（CANnode輸出線從上往下為CANCANL、GND）Cdiff=Cbusin2-Cin而這樣的測(cè)試方法，有著比較大的局限性，隻能看一個(gè)波形的放電時(shí)間進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算，人工誤差較大，通過(guò)多次的統(tǒng)計(jì)，然後進(jìn)行平均，非常消耗時(shí)間。