HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 衝擊電流發(fā)生器 變頻串聯(lián)諧振 CVT諧振耐壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

不過(guò)當(dāng)我們?cè)陂_(kāi)始敲敲打打動(dòng)手之前，如果能夠簡(jiǎn)單預(yù)覽一下室內(nèi)的格局和布置，那是不是就顯得更穩(wěn)妥了呢？現(xiàn)在一款智能測(cè)量?jī)x就可以通過(guò)增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)的方式幫助我們實(shí)現(xiàn)這個(gè)目的。智能測(cè)量?jī)x可以讓我們將現(xiàn)實(shí)世界中拍攝的照片、物體之間測(cè)量的距離以及尺寸直接變成可視化的設(shè)計(jì)圖，並且能夠在智能App中進(jìn)行編輯和預(yù)覽。然後App可以將我們所有的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)點(diǎn)，我們可以根據(jù)整體的輪廓進(jìn)行重新規(guī)劃和布置，防止出現(xiàn)計(jì)算錯(cuò)誤、規(guī)劃和計(jì)算失誤的問(wèn)題。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

電源是電子係統(tǒng)的心臟，工業(yè)應(yīng)用中，為係統(tǒng)前級(jí)或接口供電的電源一般都要求有高的抗乾擾性能，隔離型的模塊電源模塊應(yīng)運(yùn)而生。你或許知道隔離電源的設(shè)計(jì)方案，但你真的能夠設(shè)計(jì)出一款穩(wěn)定的電源嗎？本文為你揭秘。電源模塊為何需要隔離保護(hù)人員避免受到物理和電氣傷害電源的隔離耐壓在GB-4943國(guó)標(biāo)中又叫抗電強(qiáng)度，這個(gè)GB-4943標(biāo)準(zhǔn)就是我們常說(shuō)的信息類(lèi)設(shè)備的**標(biāo)準(zhǔn)，就是為了防止人員受到物理和電氣傷害的標(biāo)準(zhǔn)，其中包括避免人受到傷害、物理傷害、等傷害。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

其主要功能是用於檢測(cè)電容充電完畢後u的漏電流指標(biāo)。檢測(cè)指標(biāo)合格後，電容樣品將被**放電並流向後道包裝環(huán)節(jié)，而測(cè)試不通過(guò)的樣品則被篩選出來(lái)另作處理。在電容生產(chǎn)過(guò)程中，采用的電容老化測(cè)試設(shè)備是否地檢測(cè)出產(chǎn)品性能至關(guān)重要。如果對(duì)u的漏電流指標(biāo)測(cè)試精度不達(dá)標(biāo)，可能會(huì)導(dǎo)致部分不合格產(chǎn)品流入後道成品中，降低電容產(chǎn)品的大批量可靠性。若將指標(biāo)調(diào)節(jié)過(guò)於苛刻，將導(dǎo)致生產(chǎn)過(guò)程中部分合格產(chǎn)品被誤判為失效，造成不必要的報(bào)廢損失，降低經(jīng)濟(jì)效益。