HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓發(fā)生器 串聯(lián)諧振試驗設備 三倍頻試驗變壓器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測溫技術、全息乾涉測溫技術、基於CCD的三基色測溫技術、以及如下所示的紅外輻射測溫技術：.非接觸式紅外熱成像儀接觸式測量法接觸式測溫儀溫度一般有熱電偶和熱電阻兩種：熱電偶的工作原理是基於塞貝克(seeback效應)，兩種不同成分的導體兩端連接成回路，如兩連接端溫度不同，則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象，利用此現(xiàn)象來測量溫度。熱電阻的測量原理是根據(jù)溫度變化時本身電阻也變化的特性來測量溫度。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

測試目的就是檢查DUT的CAN_H與CAN_L的隱性/顯性輸出電壓是否遵守ISO11898-2的定義。ISO11898-2輸出電壓標準，測試原理負載條件下，選擇被測DUT的適應條件，如所示，Rtest為網(wǎng)絡負載電阻，正常為60Ω，高負載時為45Ω。測量和差分電壓等級和CANLCANH線電壓：VCAN_H，VCAN_L，然後計算差分電壓Vdiff和共模電壓VCM。其中Vdiff和VCM的計算方法如下：如果測試結果符合表1所示，則通過測試。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

低功耗與環(huán)境適應性：低功耗是便攜式產(chǎn)品研究的重點，功耗決定了產(chǎn)品的使用時間及可用性，同時對溫度、濕度、防水和偶然跌落等的環(huán)境適應能力也是便攜式產(chǎn)品競爭的主要指標之一。高精度：隨著集成芯片製造技術、數(shù)字采樣技術和微處理器速度的提高，便攜式儀表的高準確度、高分辨率測量的研究已成為主要方向。過載自動保護、故障自診、記錄與報警。芯片：數(shù)字萬用表的發(fā)展主要依賴於集成芯片技術的進步，便攜式產(chǎn)品的核心技術就是集成芯片，多功能、低功耗、高可靠、高精度、低成本、小體積、嵌入式微處理器及接口將成為芯片的主要發(fā)展方向。