HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
來(lái)電諮詢(xún) 衝擊電流發(fā)生器 發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

、智能手表等便攜設(shè)備迅速普及，用戶(hù)端及嵌入式係統(tǒng)對(duì)GUI性能和外觀(guān)要求也越來(lái)越高。ZLG推出的AWTK憑借著開(kāi)源、簡(jiǎn)單易用、跨平臺(tái)同步開(kāi)發(fā)等優(yōu)勢(shì)，逐漸在電子、工業(yè)控製等行業(yè)大放異彩。AWTK全稱(chēng)為T(mén)oolkitAnywher，是ZLG傾心打造的一套基於C語(yǔ)言開(kāi)發(fā)的GUI框架。旨在為用戶(hù)提供一個(gè)功能強(qiáng)大、可靠、簡(jiǎn)單易用、可輕鬆做出炫酷效果的GUI引擎，並支持跨平臺(tái)同步開(kāi)發(fā)，一次編程，終生使用。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

幾種常見(jiàn)的有機(jī)光譜技術(shù)紅外光譜如何產(chǎn)生？來(lái)自紅外光源的紅外光束經(jīng)過(guò)光束分解器，這個(gè)光束分解器將一半光束送到一個(gè)固定鏡子，另一半光束送到可移動(dòng)鏡子。來(lái)自鏡子的紅外光束在它們達(dá)到探測(cè)器之前發(fā)生反射並且重新結(jié)合。所有頻率的紅外光束在同一時(shí)間通過(guò)乾擾儀，並且鏡子的快速移動(dòng)能同時(shí)產(chǎn)生完整的乾涉圖。然後利用傅立葉變換將乾涉圖轉(zhuǎn)換為光譜圖。紅外光譜的產(chǎn)生紅外光譜如何分辨不同成分？分子中存在著O-H,N-H,C-H,S-H等不同官能團(tuán)，不同官能團(tuán)對(duì)應(yīng)著不同組分。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

簡(jiǎn)介40多年來(lái)，數(shù)字功能測(cè)試一直是測(cè)試領(lǐng)域的一部分。早的測(cè)試係統(tǒng)采用簡(jiǎn)單的靜態(tài)數(shù)字測(cè)試功能。然而，隨著這些數(shù)字設(shè)備，模塊和係統(tǒng)的性能、複雜性的發(fā)展，數(shù)字測(cè)試儀器也在不斷發(fā)展。特彆是，器件切換速率相關(guān)技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步已經(jīng)對(duì)測(cè)試儀器和係統(tǒng)提供了相對(duì)更高的性能要求，而今天的半導(dǎo)體測(cè)試係統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測(cè)試功能。在**-航天應(yīng)用，數(shù)字功能測(cè)試要求不斷的提出一係列特的要求和挑戰(zhàn)。與設(shè)備測(cè)試相關(guān)的測(cè)試要求不同，M-A應(yīng)用主要側(cè)重於支持模塊和係統(tǒng)級(jí)測(cè)試。