HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
來電諮詢 雷衝擊電壓發(fā)生器 帶時間直流高壓發(fā)生器 感應(yīng)耐壓試驗裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

DM濾波器衰減了中頻段DM噪聲（2MHz至30MHz）近35dBμV/m。此外高頻段噪聲（30MHz至100MHz）也有所降低，但仍超過限製水平。這主要是因為DM濾波器對於高頻段CM噪聲的濾除能力有限。C5標(biāo)準(zhǔn)下的噪聲特性（帶DM濾波器）顯示了增加CM和DM濾波器後的噪聲特性。與相比，CM濾波器的增加降低了近20dBμV/m的CM噪聲。並且EMI性能也通過了CISPR25C5標(biāo)準(zhǔn)。C5標(biāo)準(zhǔn)下的噪聲特性（帶CM和DM濾波器）顯示了不同布局下帶CM和DM濾波器的噪聲特性，其中濾波器與相同。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

我們都知道數(shù)字示波器的原理決定了波形觀測必然存在死區(qū)時間，而死區(qū)時間的長短直接影響示波器捕獲異常信號的能力。那麼，現(xiàn)在用的示波器的死區(qū)時間具體是多少，怎麼去計算呢，在下文揭開。采樣時間、死區(qū)時間和捕獲時間數(shù)字示波器捕獲信號的過程是典型的“采集-處理-采集-處理”過程，如所示為數(shù)字示波器的采集原理，一個捕獲周期由采樣時間和(處理時間)死區(qū)時間組成，如所示。示波器采集原理圖采樣時間：是信號采樣存儲的過程。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

取用時，若瓶塞頂是扁平的?？蓪⑵咳怪门_上，若瓶塞頂不是扁平的，可用食指和中指將瓶塞夾持或放在清潔乾燥的表麵皿上，嚴禁將瓶塞橫置在臺上；對固體試劑應(yīng)用乾淨(jìng)的藥勺取用，若試劑結(jié)塊，可用潔淨(jìng)乾燥的粗玻璃棒或不鏽鋼藥刀將其搗碎後再取。取出試劑後，應(yīng)立即蓋緊瓶塞，以防搞錯瓶塞，汙染試劑。用過的藥勺和玻璃棒必須及時洗淨(jìng)。一般固體試劑可在乾淨(jìng)的蠟光紙上稱量，具有腐蝕性，強氧化性或易潮解的固體試劑應(yīng)在下班器皿內(nèi)稱量，絕不能用濾紙來稱量。