HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗 雷衝擊電壓發(fā)生器 智能型試驗變壓器 過電壓保護器測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

工頻電磁場波形由於是測量電路存在周期性波動，那工頻電磁場擾動的可能性更大，用示波器觀測工頻電磁場波形如，一般認為50Hz工頻電磁場乾擾是由兩方麵原因產(chǎn)生：50Hz工頻乾擾通過傳導(dǎo)進入係統(tǒng)；50Hz工頻乾擾通過空間耦合進入係統(tǒng)。針對上述問題，消除50Hz工頻電磁場乾擾的方法也相對明確，有下述四種方案可供電路設(shè)計者去參考：利用電氣隔離，阻斷工頻乾擾的傳導(dǎo)路徑；敏感電路處搭建共模和濾波電路，濾除進入輸入通道的工頻擾動；軟件中構(gòu)建IIR陷波或者FIR帶阻數(shù)字濾波器，消除工頻乾擾對測量結(jié)果的影響；降低測量引線回路麵積，增加，減弱空間耦合效應(yīng)。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

20世紀90年代的大部分時間，筆者都是在美國的矽穀度過的，當時的美國及許多的電子商店都充斥著日本產(chǎn)品。所謂的小巧、輕薄——“輕薄短小”是日本產(chǎn)品的壓倒性的優(yōu)勢和特點?，F(xiàn)在我們通過途徑獲得了上世紀90年代、2000年以後的等距今20-30年前的具有曆史性（Historical）意義的產(chǎn)品，並進行定期分解。並不是為了與今天的產(chǎn)品進行對比，而是為了彙總當時機械地（Mechanical）組合的產(chǎn)品如何被今天的電子產(chǎn)品所取代的。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

使用組合透鏡係統(tǒng)對物體成像，實現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實驗測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對於成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像係統(tǒng)測試目的：展示成像係統(tǒng)對於局部區(qū)域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF，其對於成像質(zhì)量的影響。測試設(shè)備:相機、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實驗過程：1.實驗室製備液晶透鏡，並通過乾涉法獲取波前信息，得到zernike係數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動電壓；組裝成像係統(tǒng)，對不同區(qū)域的物體進行成像實驗；使用ISO12233板對成像係統(tǒng)進行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。