HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
來電諮詢 衝擊電壓發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 CVT諧振耐壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

數(shù)字可調(diào)增益通過內(nèi)部精密電阻陣列實(shí)現(xiàn)。為了優(yōu)化增益、CMRR和失調(diào)，可以對這些電阻陣列進(jìn)行片內(nèi)調(diào)整，從而獲得良好的整體直流性能。還可以運(yùn)用設(shè)計(jì)技巧來實(shí)現(xiàn)緊湊的IC布局，使寄生效應(yīng)，並提供出色的匹配，產(chǎn)生良好的交流性能。由於這些優(yōu)點(diǎn)，如果有符合設(shè)計(jì)要求的PGIA，強(qiáng)烈建議選擇這樣的器件。表1列出了可用的集成PGIA以及一些關(guān)鍵規(guī)格。PGIA的選擇取決於應(yīng)用。AD825x由於具有快速建立時(shí)間和高壓擺率，在多路複用係統(tǒng)中非常有用。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

光離子檢測儀（以下簡稱PID）能有效地用於多種危害物質(zhì)的檢測,程度保護(hù)使用者的**。市麵上檢測危害物質(zhì)的方法有很多種，和其它方法比較起來，PID原理具有響應(yīng)速度快、操作簡單、維護(hù)方便、體積小巧及檢測精度高等優(yōu)勢，經(jīng)常用於檢測揮發(fā)性有機(jī)化合物。PID檢測儀采用光致電離的原理來檢測氣體，當(dāng)PID燈照射到待檢測氣體時(shí)，氣體吸收能量被產(chǎn)生離子遊動(dòng)，失去電子（e-）的物質(zhì)變成帶正電荷的離子，這個(gè)過程被稱之為電離作用下圖可以幫助我們理解光致電離的過程。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)

更壞的情況是查不出確切的原因，使用戶誤認(rèn)為是產(chǎn)品質(zhì)量問題而損壞企業(yè)信譽(yù)。一般情況下，對此類設(shè)備暴露在外麵可能與接觸的端口都要求進(jìn)行防靜電保護(hù)，如鍵盤、電源接口、數(shù)據(jù)口、I/O口等等?，F(xiàn)在比較通用的ESD標(biāo)準(zhǔn)是IEC61-4-2，應(yīng)用靜電模式，測試電壓的範(fàn)圍為2kV～15kV(空氣放電)，峰值電流為2A/ns，整個(gè)脈衝持續(xù)時(shí)間不超過6ns。在這樣的脈衝下所產(chǎn)生的能量總共不超過幾百個(gè)微焦?fàn)?，但卻足以損壞敏感元器件。