HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
長期供應(yīng) 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 試驗(yàn)變壓器 交直流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

單對以太網(wǎng)（OPEN）聯(lián)盟（OA）特彆興趣小組（SIG）成立於2011年，現(xiàn)已有300多位成員，包括OEM、供應(yīng)商和技術(shù)提供商。OA不僅指導(dǎo)了開發(fā)麵向汽車的以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)的修訂，而且還製定了麵向PHY的合規(guī)性測試規(guī)範(fàn)，用於確保來自各供應(yīng)商的不同元件的閾值功能和性能，從而實(shí)現(xiàn)汽車業(yè)所需的必要係統(tǒng)集成可靠性和簡便性。OA製定的PHY合規(guī)性測試規(guī)範(fàn)包含三個(gè)主要方麵：EMC/EMI性能、功能和IEEE標(biāo)準(zhǔn)電氣合規(guī)性及不同廠商的PHY之間的互操作性。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

使用儀器設(shè)備進(jìn)行測試時(shí)，工程師們通常會(huì)發(fā)現(xiàn)這樣一個(gè)問題：同一個(gè)信號(hào)用不同的設(shè)備測試，得出的結(jié)果卻有所不同。到底哪一個(gè)結(jié)果才是準(zhǔn)確的？這時(shí)選擇合適的設(shè)備進(jìn)行測試，可以避免被錯(cuò)誤的結(jié)果“迷惑”。不同的測試設(shè)備都有典型的應(yīng)用場合和測量範(fàn)圍，之所以會(huì)出現(xiàn)測量結(jié)果不一致的情況，往往和測試設(shè)備本身的參數(shù)特性有關(guān)係，其中很關(guān)鍵的一個(gè)指標(biāo)就是儀器的帶寬。帶寬不同的儀器，哪怕測試相同的信號(hào)，測試結(jié)果往往也都不同。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

測試時(shí)，探針壓在PCB表麵的待測點(diǎn)，然後通電測試每個(gè)網(wǎng)點(diǎn)的通斷，並報(bào)告存在的短路和斷路缺陷。其局限在於隻能檢測短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高，小批量生產(chǎn)不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更複雜的PCB混合技術(shù)的縱深發(fā)展，僅依靠人眼檢測或電測試印製電路板的質(zhì)量無法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少進(jìn)入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量，對PCB檢測中的關(guān)鍵設(shè)備----自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)係統(tǒng)的需求也越來越大。