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HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
現(xiàn)貨供應(yīng) 衝擊電流發(fā)生器 超低頻高壓發(fā)生器 匝間衝擊耐壓試驗(yàn)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。
一般地講,奇次諧波引起的危害比偶次諧波更多更大。在平衡的三相係統(tǒng)中,由於對(duì)稱(chēng)關(guān)係,偶次諧波已經(jīng)被消除了,隻有奇次諧波存在。對(duì)於三相整流負(fù)載,出現(xiàn)的諧波電流是6n±1次諧波,11119等,變頻器主要產(chǎn)生7次諧波?!爸C波”一詞起源於聲學(xué)。有關(guān)諧波的數(shù)學(xué)在18世紀(jì)和19世紀(jì)已經(jīng)奠定了良好的基礎(chǔ)。傅裡葉等人提出的諧波方法至今仍被廣泛應(yīng)用。電力係統(tǒng)的諧波問(wèn)題早在20世紀(jì)20年代和30年代就引起了人們的注意。
衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)
係統(tǒng)描述AOI是檢測(cè)PCB表麵圖形品質(zhì)(如表麵缺陷、斷路和短路)的設(shè)備,用於生產(chǎn)過(guò)程中半成品品質(zhì)檢測(cè),是高精密單層印製板,尤其是多層印製板加工的關(guān)鍵技術(shù)。測(cè)試係統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識(shí)彆診斷算法和計(jì)算機(jī)技術(shù)於一體。檢測(cè)時(shí),機(jī)器通過(guò)電荷耦合器件(CCD)或激光自動(dòng)掃描PCB,采集圖像後送與計(jì)算機(jī)處理,再與數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較,查出PCB上缺陷,用顯示器或自動(dòng)標(biāo)識(shí)係統(tǒng)顯示或標(biāo)識(shí)缺陷,供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備:研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組,支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等係列CPU的高性能平臺(tái);支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條,總?cè)萘恐С?GB;板載1個(gè)1/1/1Mbps網(wǎng)絡(luò)接口;支持VGA+VGA雙顯示功能;支持4個(gè)SATA接口;USB2.接口、2個(gè)串口(其中1個(gè)支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個(gè)並口等豐富的I/O接口。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征
本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。
充電控製功能
係統(tǒng)采用恒流充電。
根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。
動(dòng)作控製
本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。
手動(dòng)/自動(dòng)控製。
2 觸發(fā)控製
係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)
是全實(shí)物測(cè)試,將待測(cè)裝備置於演習(xí)或?qū)嶋H戰(zhàn)區(qū),利用實(shí)際存在的複雜電磁環(huán)境對(duì)裝備性能進(jìn)行測(cè)試。此種方式具說(shuō)服力,通常作為成熟型號(hào)裝備的終測(cè)試方法。因?yàn)榇朔绞匠杀緲O高、風(fēng)險(xiǎn)大,很多場(chǎng)合是破壞性測(cè)試,並且所得到測(cè)試結(jié)果不具備遍曆性,無(wú)法滿足裝備研製過(guò)程中的絕大多數(shù)的常規(guī)測(cè)試需求。種是基於計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)庫(kù)等技術(shù)的全數(shù)字仿真測(cè)試。這種技術(shù)是通過(guò)數(shù)據(jù)采集或者數(shù)學(xué)建模的方式,將實(shí)際電磁環(huán)境的主要特征信息以數(shù)字格式存儲(chǔ)於數(shù)據(jù)庫(kù)中,在某種特定仿真算法的驅(qū)動(dòng)下,對(duì)待測(cè)裝備的性能進(jìn)行全數(shù)字仿真測(cè)試。