HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
規(guī)格齊全 雷電衝擊發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 三倍頻電源發(fā)生器產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

在無(wú)線通信高度發(fā)達(dá)的今天，乾擾是不受歡迎的東西，它可能會(huì)導(dǎo)致噪聲、通話中斷、通信受到乾擾。在蜂窩網(wǎng)絡(luò)中，乾擾實(shí)際上是網(wǎng)絡(luò)的一部分。雖然當(dāng)前越來(lái)越多的網(wǎng)絡(luò)內(nèi)置了乾擾檢測(cè)功能，但這些工具通常效果不大，因?yàn)樗鼈冸b針對(duì)幾種信號(hào)，可能隻能在一條通道上測(cè)量問(wèn)題的影響。頻譜儀是工程師非常信賴(lài)的工具，用以測(cè)量和識(shí)彆乾擾源。市場(chǎng)上有許多不同類(lèi)型的頻譜儀，但許多人電池供電的小型頻譜儀，因?yàn)樗麄冃枰軌蜃杂梢苿?dòng)，並把來(lái)自多個(gè)位置的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來(lái)。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

信號(hào)輸出不集中於某一個(gè)頻點(diǎn)而是均衡覆蓋一段較寬的頻率範(fàn)圍不僅能保證模塊在應(yīng)用時(shí)容錯(cuò)率更強(qiáng)，還能保證量產(chǎn)時(shí)的一致性?，F(xiàn)在市麵上可用於400-500MHz頻率的濾波器有很多，在這裡我們挑選出兩種典型的濾波器：巴特沃斯和切比雪夫，對(duì)比他們的端口阻抗在不同頻率下的變化情況，從而得出該濾波器的使用帶寬，終選擇在無(wú)線通信中合適的濾波器。我們做了如下實(shí)驗(yàn)，圖是使用ADS仿真的兩個(gè)5階600MHz低通LC濾波器，為巴特沃斯濾波器，為切比雪夫?yàn)V波器。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

先測(cè)試出可控矽的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試後，逐漸升壓，觀測(cè)漏電流，當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié)，並且隻能測(cè)試其是否導(dǎo)通，而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控矽進(jìn)行測(cè)量，參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控製，兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。