HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
5年保修 雷衝擊電壓發(fā)生器 發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置 CVT諧振耐壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

不僅解決了這些行業(yè)的加工難題，同時(shí)也為這些行業(yè)帶來了更多的加工解決方案，是現(xiàn)在加工製造發(fā)展的又一次飛躍?，F(xiàn)在光纖激光器的高速發(fā)展，離不開現(xiàn)在光纖激光器的雙包層結(jié)構(gòu)和包層泵浦技術(shù)的支持，也離不開現(xiàn)在的半導(dǎo)體激光工藝的成熟，而光纖光柵的刻劃和多元耦合器的實(shí)現(xiàn)著無疑不是推動(dòng)了現(xiàn)在光纖激光器的快速發(fā)展，讓現(xiàn)在的光纖激光技術(shù)能夠快速滲透到我們現(xiàn)在加工的多方麵。目前我們的光纖激光器主要是通過參雜稀有元素作為激光介質(zhì)，包括摻雜Yb3+，Nd3+，Er3+，Ho3+，Tm3+等離子材料。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

另一方麵，在電源從額定負(fù)載到限流點(diǎn)負(fù)載範(fàn)圍內(nèi)，電源又無法實(shí)現(xiàn)過流保護(hù)，將嚴(yán)重影響電源可靠性、壽命等。負(fù)載調(diào)整率和負(fù)載要求對單路輸出電源，一般無負(fù)載要求。但當(dāng)負(fù)載降低到額定負(fù)載10%以下，為降低電源空載或輕載功耗，會(huì)進(jìn)入間歇工作模式，雖不影響其正常工作，但其紋波可能會(huì)增大並出現(xiàn)聽覺噪聲。選擇電源模塊時(shí)功率亦需考慮。如負(fù)載低於1W，卻選擇10W或更大功率的電源明顯是不合適的。除此之外，對雙路及更多路輸出電源，通常要求每一路都帶有至少10%額定負(fù)載。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)

為什麼經(jīng)驗(yàn)老道的工程師都要在測試前調(diào)整一下的檔位呢？不同檔位除了輸入阻抗、帶寬、上升時(shí)間等不同之外，還有個(gè)很重要的參數(shù)是輸入電容，它對於被測信號究竟有多大的影響？的輸入電容對於高頻信號有很大的影響，信號頻率越高，影響也就越大，具體有何影響呢？負(fù)載效應(yīng)簡單來說，的負(fù)載效應(yīng)就是在用測電路中的其中兩點(diǎn)的波形時(shí)，在兩個(gè)測試點(diǎn)中接入了一個(gè)負(fù)載，而這個(gè)負(fù)載的大小，會(huì)直接影響電路的狀態(tài)，造成測量結(jié)果的不正確性。