HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗 衝擊電壓發(fā)生器 調(diào)頻串聯(lián)諧振 CVT檢驗諧振升壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

打開451的時間門測量功能，將中心頻率設置成f1，頻寬為希望測量的偏離f1的頻率偏移的兩倍，將時間門觸發(fā)信號設置為外部門控輸入，門寬度設置成T1，該數(shù)值必須小於跳頻源工作在f1頻點的駐留時間，此時451輸出的信號頻譜即為跳頻源工作在f1頻率時的雜散頻譜，利用差值頻標功能即可獲得雜散數(shù)值。跳頻源輸出信號、觸發(fā)門控信號和時間門信號的時序關係圖給出了跳頻源輸出、觸發(fā)門控信號、時間門信號之間的時間關係圖。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

我們再以萬用表為例。如果表示位數(shù)為6，則其動態(tài)範圍應為120dB（或6×20dB/十倍頻程）。但要注意的是，後兩位仍在擺動。真實動態(tài)範圍隻有80dB。這就是說，如果設計人員要測量1μV（或0.000001V)的電壓，則該測量值的誤差可能高達100μV，因為實際器件的精度僅為100μV（或0.0001V或0.0001XXV，其中，XX表示在擺動的後兩位）。實際上，描述任何係統(tǒng)的整體精度的方法有兩種：直流和交流。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

二維傅裡葉變換Lamb波在時間和空間上都可以通過二維傅裡葉變換轉(zhuǎn)換為二維各個離散頻率點的頻率G波數(shù)能量譜,從而分解出單個Lamb波,並可對其幅值進行測量。單個波動組分在時間上的頻度稱為頻率,而在空間(距離)上的頻度稱為波數(shù).由頻率波數(shù)譜中某個波動組分的頻率和波數(shù),可以確定周期和波長。通過對接收信號的二維傅裡葉變換,與理論計算得到的波數(shù)G頻率的頻散曲線進行對比,從而確定檢測信號中包含的Lamb波模態(tài)。