HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓發(fā)生裝置 超低頻發(fā)生器 三倍頻試驗變壓器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

與其他靈敏的SMU相比，4201-SMU和4211-SMU的電容指標已經(jīng)提高，這些SMU模塊用於可配置的Model4200A-SCS參數(shù)儀，使用Clarius+軟件進行交互控製。本文探討了4201-SMU和4211-SMU可以進行穩(wěn)定的弱電流測量的多種應用實例，包括測試：平板顯示器上的OLED像素器件、長電纜MOSFET傳遞特點、通過開關矩陣連接的FET、卡盤上的納米FETI-V測量、電容器泄漏測量。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

汽車廠商往往采用的消費電子係統(tǒng)來體現(xiàn)與其他廠商汽車的差異化，該係統(tǒng)必須在苛刻的條件下都能正常工作。動力係統(tǒng)、**係統(tǒng)和其它汽車控製係統(tǒng)也都有同樣的要求，一旦出現(xiàn)故障，這些係統(tǒng)會導致更加嚴重的後果。汽車電子係統(tǒng)對於供應商提供的芯片和印製電路板的電磁輻射特彆敏感。SAE(原汽車工程師協(xié)會)已經(jīng)定義測試規(guī)範並建立滿足電磁兼容(EMC)和電磁乾擾(EMI)的需求，並對其進行了不斷的完善。采用極近場EM掃描技術，供應商的設計團隊可以通過一個桌麵係統(tǒng)來計量並立即顯示輻射的空間和頻譜特性，避免以後在更高費用的模塊、係統(tǒng)或整車級測試中出現(xiàn)問題。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

增益壓縮測量軌跡圖中軌跡含義如下：表1壓縮參數(shù)表通過一次測量，即可得到全頻段的壓縮點，並且可以將壓縮點的輸入功率，輸出功率，增益等信息一次顯示出來。每條軌跡都支持幅度，相位，圓圖，極坐標等多種格式的顯示。通過壓縮參數(shù)與線性S參數(shù)的對比，可以看出放大器在線性區(qū)和飽和區(qū)的工作狀態(tài)發(fā)生了哪些改變。如果要獲得更多的參數(shù)，可以選擇增加軌跡，來獲得更多信息。掃描方法放大器增益壓縮測量有三種掃描方法：智能掃描和兩種二維掃描。