HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
現(xiàn)貨供應(yīng) 衝擊電流發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 交直流分壓器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

測試方法對(duì)於直流電氣性能的測試方法通常為直流拉載測試，基於家用環(huán)境的AC輸入特性測試、效率測試、動(dòng)態(tài)測試一係列的保護(hù)測試等，常用到的硬件電路構(gòu)造如圖所示：雖然是簡單的交流電源+負(fù)載的構(gòu)造，但是由於涉及到的測試項(xiàng)目比較多以及需要測試的相關(guān)參數(shù)比較多，對(duì)相應(yīng)的測試設(shè)備也會(huì)有諸多的要求，其中有關(guān)交流輸入的測試項(xiàng)絕大部分，比如開關(guān)機(jī)測試、電網(wǎng)擾動(dòng)模擬測試、以及電源調(diào)節(jié)率等測試都是由交流源實(shí)現(xiàn)的，有關(guān)輸出的測試項(xiàng)如動(dòng)態(tài)測試、過載保護(hù)測試、負(fù)載調(diào)節(jié)率測試絕大部分都是由負(fù)載來完成，艾德克斯ITS9500電源測試係統(tǒng)，可以測量各類電源模塊的輸入輸出特性，將電子負(fù)載、交流源、功率計(jì)和示波器等功能整合，加上定製化上位機(jī)軟件完成自動(dòng)測試和數(shù)據(jù)處理。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

上麵句話一說出來，很多人就認(rèn)識(shí)到問題出在哪了。相信冇有哪一個(gè)實(shí)驗(yàn)是使用同一個(gè)東西來驗(yàn)證自己的正確性。校準(zhǔn)件的廠商通常提供專門的校驗(yàn)件，以便用戶進(jìn)行驗(yàn)證校準(zhǔn)結(jié)果的正確性。若冇有校驗(yàn)件，建議使用另外一套校準(zhǔn)件或者自己保留一個(gè)已知特性的適配器/轉(zhuǎn)接器/衰減器進(jìn)行驗(yàn)證。不要用手?jǐn)Q校準(zhǔn)件力矩扳手是校準(zhǔn)件的標(biāo)配，通常手冊(cè)中也會(huì)介紹力矩扳手的使用方法。力矩扳手也是“定標(biāo)”過的產(chǎn)品，能保證校準(zhǔn)件與儀器/電纜接觸麵到達(dá)“恰到好處”的接觸。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

不需要“先進(jìn)”數(shù)字測試性能；但對(duì)於測試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測試係統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子係統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測試，因?yàn)檫@種測試係統(tǒng)被廣泛用於現(xiàn)場服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測試新代產(chǎn)品。更具體地說，現(xiàn)場部署的測試係統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限製—要求係統(tǒng)具有便攜式，並且具有高可靠性。：VIPER/T測試係統(tǒng)數(shù)字子係統(tǒng)相關(guān)的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個(gè)引腳的時(shí)序，多個(gè)時(shí)間集和靈活的定序器。