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HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
大量供應(yīng) 衝擊電流發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。
全天科技大功率直流電子負(fù)載具有恒電流、恒電壓、恒功率、恒電阻、恒阻抗、動(dòng)態(tài)電流、動(dòng)態(tài)電阻、掃頻功能和List工作模式,可回讀出電壓、電流和功率參數(shù),具有短路測(cè)試功能,具有過(guò)電流、過(guò)功率、過(guò)電壓、過(guò)溫度保護(hù)功能和反接告警功能,可通過(guò)外部仿真輸出接口檢測(cè)當(dāng)前電子負(fù)載的電壓和電流(0~10V),具有標(biāo)配RS232/RS485/USB的通訊接口及選配LANGPIB的通訊接口,還具有多臺(tái)電子負(fù)載並機(jī)操作的接口。
衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)
傅立葉變換紅外光譜技術(shù)結(jié)合其多種形式的非接觸測(cè)量方式,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)氣體的主被動(dòng)測(cè)量,非常適合用於化工業(yè)園區(qū)的排放現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)。FTIR技術(shù)用於氣體定量存在兩個(gè)主要問(wèn)題,一是氣體分子吸收截麵受氣壓、溫度影響明顯,二是FTIR係統(tǒng)的分辨率一般遠(yuǎn)小於氣體分子譜線的展寬,儀器線型受到乾涉圖采樣,切趾和輻射入射立體角等因素影響。這些影響因素使得表觀譜線產(chǎn)生難以忽略的偏移和展寬。20世紀(jì)80年代後期,隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)迅速發(fā)展,儀器,計(jì)算機(jī)控製等現(xiàn)代化手段在大氣環(huán)境監(jiān)測(cè)中得到了廣泛應(yīng)用,自動(dòng)連續(xù)監(jiān)測(cè)係統(tǒng)相繼問(wèn)世。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征
本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。
充電控製功能
係統(tǒng)采用恒流充電。
根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。
動(dòng)作控製
本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。
手動(dòng)/自動(dòng)控製。
2 觸發(fā)控製
係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)
典型的測(cè)試方法是,到達(dá)混響室外的信號(hào)被數(shù)據(jù)采集設(shè)備采集,並需要用戶自定義軟件來(lái)確定從ECU輸出的CAN總線信號(hào),傳感器信號(hào),或者PWM輸出是否滿足特定的需求。因?yàn)橛泻芏嘈盘?hào)需要測(cè)試,以及有許多測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),所以描述測(cè)試計(jì)劃中所有的測(cè)試需求的軟件開發(fā)時(shí)間和成本將是非常漫長(zhǎng)和昂貴的。將示波器用於EMI測(cè)試領(lǐng)域是一個(gè)相對(duì)來(lái)說(shuō)未被廣泛探索的方法,該方法可以將一個(gè)陣列的示波器放置於乾擾室外,使用多臺(tái)示波器進(jìn)行實(shí)時(shí)。