HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
大量供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 工頻試驗(yàn)變壓器 交流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

研發(fā)者嘗試著減少熱切換的影響，但是事實(shí)上，很多測試由於時(shí)間方麵的限製，是需要進(jìn)行熱切換的，這樣可以防止在測試的過程中係統(tǒng)的重新啟動(dòng)或者是確?？梢阅M間歇性的故障。熱切換是研發(fā)者避免不了的。其實(shí)測試係統(tǒng)中很多的故障不是由於繼電器的正常壽命已經(jīng)到了而引起，一些故障是在生產(chǎn)的階段就無法進(jìn)行檢測而引起的。很多的故障是在測試係統(tǒng)中的一些意外的情況而引起的。一個(gè)經(jīng)常發(fā)生的情況是係統(tǒng)的集成而引起的，由於不該連接的地方連接，如與電源之間的短路或者是在電容性的負(fù)載上進(jìn)行熱切換，從而引起的布線和軟件方麵的故障，從而影響到繼電器。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

三芯同軸電纜用來把SMU連接到開關(guān)矩陣上，再從開關(guān)矩陣連接到DUT。顯示了典型的電路圖，其中兩個(gè)SMU使用遠(yuǎn)程傳感連接開關(guān)矩陣。使用遠(yuǎn)程傳感(4線測量)而不是本地傳感(2線測量)，要求每個(gè)SMU連接兩條電纜，由於電纜是平行的，所以這會(huì)使SMU輸出的電容提高一倍。.通過707B開關(guān)矩陣把SMU連接到DUT的簡化示意圖在這種情況下，SMU使用2m電纜連接到開關(guān)矩陣的行(輸入)上；開關(guān)矩陣的列(輸出)使用5m電纜連接到配線架上。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

有的數(shù)據(jù)采集器的通道數(shù)可擴(kuò)展至數(shù)百甚至數(shù)千個(gè)，但受到被測目標(biāo)尺寸的限製，這些通道數(shù)往往是理論上的，極少用在實(shí)際檢測中。紅外熱像在汽車電子檢測方麵的應(yīng)用案例電路板及元器件檢測A電路板測試當(dāng)前，電子設(shè)備主要失效形式就是熱失效。而汽車作為熱能轉(zhuǎn)為動(dòng)能的係統(tǒng)對(duì)電子設(shè)備的要求則更高。據(jù)統(tǒng)計(jì)，電子設(shè)備失效有55%是溫度超過規(guī)定值引起，隨著溫度增加，電子設(shè)備失效率呈指數(shù)增長。一般而言電子元器件的工作可靠性對(duì)溫度極為敏感，器件溫度在7-8℃水平上每增加1℃，可靠性就會(huì)下降5%。