HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 雷衝擊電壓發(fā)生器 交流耐壓試驗(yàn)裝置 超低頻耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

當(dāng)然這兩大項(xiàng)中又包括許多小項(xiàng)目，EMI主要測(cè)試項(xiàng)：RE（產(chǎn)品輻射，發(fā)射）、CE（產(chǎn)品傳導(dǎo)乾擾）、Harmonic（諧波）、Ficker（閃爍）。EMS主要測(cè)試項(xiàng)：ESD（產(chǎn)品靜電）、EFT（瞬態(tài)脈衝乾擾）、DIP（電壓跌落）、CS（傳導(dǎo)抗乾擾）、RS（輻射抗乾擾）、Surge（雷擊）、PMS（磁場(chǎng)抗擾）。通過(guò)這些測(cè)試項(xiàng)目我們不難看出EMC測(cè)試主要圍繞產(chǎn)品的電磁乾擾和敏感度兩部分，如果一旦產(chǎn)品不符合**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)需要EMC整改的時(shí)候我們可以通過(guò)降低其材料和零部件進(jìn)行整改。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

無(wú)論對(duì)於電池管理、雷達(dá)係統(tǒng)、測(cè)量測(cè)控單元、動(dòng)力總成還是信息係統(tǒng)、車(chē)燈照明等等，在汽車(chē)相關(guān)電源產(chǎn)品領(lǐng)域的變遷過(guò)程中，“**可靠”也始終是一個(gè)關(guān)鍵詞。而在ADI公司提供的電源解決方案中，這一點(diǎn)可能反映為超低噪聲(電磁乾擾)、電池主動(dòng)均衡和能量?jī)?yōu)化(**駕駛更長(zhǎng)距離)、高低壓雙向轉(zhuǎn)換、新的浪湧和高壓保護(hù)機(jī)製等等技術(shù)特性，這些技術(shù)讓係統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高能效、優(yōu)化EMC和PCB空間，提高**可靠性，適合滿足自動(dòng)駕駛和新能源汽車(chē)係統(tǒng)性能和**性要求。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

不需要“先進(jìn)”數(shù)字測(cè)試性能；但對(duì)於測(cè)試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測(cè)試係統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子係統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測(cè)試，因?yàn)檫@種測(cè)試係統(tǒng)被廣泛用於現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測(cè)試新代產(chǎn)品。更具體地說(shuō)，現(xiàn)場(chǎng)部署的測(cè)試係統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限製—要求係統(tǒng)具有便攜式，並且具有高可靠性。：VIPER/T測(cè)試係統(tǒng)數(shù)字子係統(tǒng)相關(guān)的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個(gè)引腳的時(shí)序，多個(gè)時(shí)間集和靈活的定序器。