HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 衝擊電流發(fā)生器 變頻諧振串聯(lián)諧振 交流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

但一般有哪些行之有效的降低紋波噪聲的對(duì)策呢？下麵我們拋磚引玉，簡(jiǎn)單討論常用的八個(gè)方法。電源PCB走線和布局反饋線路應(yīng)避開磁性元件、開關(guān)管及功率二極管。輸出濾波電容放置及走線對(duì)紋波噪聲至關(guān)重要，如所示，傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中由於到達(dá)每個(gè)電容的阻抗不一樣，所以高頻電流在三個(gè)電容中分配不均勻，改進(jìn)設(shè)計(jì)中可以看出每個(gè)回路長(zhǎng)度相當(dāng)即高頻電流會(huì)均勻分配到每個(gè)電容中。如果PCB是多層板，可以選擇和主電流回路層近一層覆地，覆地可以有效的解決噪聲問(wèn)題，注意，儘量保證覆地的完整性。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

具體為：在測(cè)距精度上，從初的米級(jí)逐步提高到分米級(jí)、厘米級(jí)，目前上進(jìn)的臺(tái)站其測(cè)距精度已能達(dá)到毫米級(jí)。在測(cè)距能力上，從初的遠(yuǎn)1～2km提高到2萬(wàn)km，乃至3.6萬(wàn)km。激光測(cè)月的實(shí)現(xiàn)使測(cè)距能力達(dá)到了38萬(wàn)km。在測(cè)距頻率上，從初的每秒一次發(fā)展到目前每秒1～2次，更高頻率的激光測(cè)距（如1kHz測(cè)距）也在試驗(yàn)中。在測(cè)距波長(zhǎng)上，目前普遍采用的仍是單色測(cè)距係統(tǒng)，一些臺(tái)站也在使用雙色／多色激光測(cè)距係統(tǒng)。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

為解決這些挑戰(zhàn)，新模塊在提供電壓和測(cè)量電流時(shí)，支持的電纜長(zhǎng)度和連接電容都要超過(guò)傳統(tǒng)SMU。4201-SMU和4211-SMU是為采用長(zhǎng)電纜、開關(guān)矩陣、通過(guò)柵極接觸卡盤及其他夾具的測(cè)試裝置專門設(shè)計(jì)的。這就讓研究人員和製造測(cè)試工程師節(jié)省了大量的時(shí)間和成本，而這些時(shí)間和成本本來(lái)可以花費(fèi)在故障排除和重新配置測(cè)試設(shè)置上?！耙?yàn)橐档碗娏鱽?lái)節(jié)省能耗，精細(xì)測(cè)試裝置所產(chǎn)生的高負(fù)載電容正成為一個(gè)日益嚴(yán)重的問(wèn)題。在測(cè)試智能或平板電腦采用的大型LCD麵板時(shí)，就麵臨著同樣的問(wèn)題。