HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 雷電衝擊發(fā)生器 油浸式試驗變壓器 便攜式交流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

用網(wǎng)絡(luò)儀測試時，測試端口是標(biāo)準(zhǔn)50Ω同軸線纜，因此在連接被測電纜時要求使用轉(zhuǎn)接頭或夾具，而這些接頭和夾具的S參數(shù)未知，需要去除其影響，才能獲得被測線纜的實際參數(shù)。目前常用的方法是去嵌入或夾具移除法，這些方法要求設(shè)計的夾具和微帶校準(zhǔn)件，校準(zhǔn)後移除夾具的S參數(shù)。其難點在於夾具及其校準(zhǔn)件的製作，通常校準(zhǔn)件的參數(shù)是理論設(shè)計值，跟實際值有一定差距，並且校準(zhǔn)和得到的夾具自身S參數(shù)，可能造成實測數(shù)據(jù)曲線的波動，甚至錯誤。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

實踐表明，諸如FLIRX6900sc的高性能的熱像儀比FLIRE40的經(jīng)濟型熱像儀的精度效果要好，我們?nèi)孕枰鲂┕ぷ鱽砀玫亟忉屵@一觀察結(jié)果。實驗室測量值和±1?C或1%精度我們發(fā)現(xiàn)在觀察已知發(fā)射率和溫度的物體時，熱像儀實際產(chǎn)生的溫度測量值。此類物體一般指代為“黑體”。在引用已知發(fā)射率和溫度的物體的理論概念前，你可能聽說過這個術(shù)語。黑體的這一概念也用來指代一些實驗室設(shè)備。.位於美國佛羅裡達(dá)州尼斯維爾的FLIR溫度記錄校準(zhǔn)實驗室。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

無源晶振自身無法震蕩，在工作時需要搭配外圍電路。在一定條件下，石英晶片會產(chǎn)生壓電效應(yīng)：晶片兩端的電場與機械形變會互相轉(zhuǎn)化。當(dāng)外加交變電壓的頻率與晶片的固有頻率相等時，晶體產(chǎn)生的振動和電場強度，這稱為壓電諧振，類似與LC回路的諧振。圖1石英晶體的電路符號、等效電路、電抗特性及外圍電路圖由於晶體為無源器件，其對外圍電路的參數(shù)較為敏感，尤其為負(fù)載電容。根據(jù)晶體的手冊，我們得知測試電路中有電容，此電容對晶體是否起振大有關(guān)聯(lián)：CCg稱作匹配電容，是接在晶振的兩個腳上的對地電容，其作用就是調(diào)節(jié)負(fù)載電容使其與晶振的要求相一致，需要注意的是CCg串聯(lián)後的總電容值才是有效的負(fù)載電容部分。