HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 雷電衝擊電壓發(fā)生器 智能型直流高壓發(fā)生器 CVT諧振耐壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

當(dāng)光線通過這些透鏡單元後，就會(huì)形成明暗相間的可見區(qū)和盲區(qū)。由於每一個(gè)透鏡單元隻有一個(gè)很小的視角，視角內(nèi)為可見區(qū)，視角外為盲區(qū)。任何兩個(gè)相鄰?fù)哥R單元之間均以一個(gè)盲區(qū)和可見區(qū)相間隔，它們斷續(xù)而不重疊和交叉，如a。這樣，當(dāng)把透鏡放在傳感器正前方的適當(dāng)位置時(shí)，運(yùn)動(dòng)的一旦出現(xiàn)在透鏡的前方，輻射出的紅外線通過透鏡後在傳感器上形成不斷交替變化的陰影區(qū)（盲區(qū)）和明亮區(qū)（可見區(qū)），使傳感器表麵的溫度不斷發(fā)生變化，從而輸出電信號(hào)。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

對(duì)於能以顯函數(shù)表現(xiàn)其對(duì)流量測(cè)量結(jié)果影響的物性參數(shù)，隻要知道這些參數(shù)的實(shí)際值，就能對(duì)其進(jìn)行修正，如天然氣相對(duì)密度、壓縮因子、等熵指數(shù)等對(duì)孔板流量計(jì)測(cè)量的影響。但對(duì)大多數(shù)流量測(cè)量儀表來說，物性參數(shù)對(duì)其計(jì)量性能的影響難以用數(shù)學(xué)公式準(zhǔn)確地表達(dá)出來，比如，在液體計(jì)量中，容積式流量計(jì)和速度式流量計(jì)對(duì)液體黏度的變化十分敏感，特彆是在低黏度下和儀表測(cè)量範(fàn)圍的下限，目前還冇有通用的黏度修正公式。在天然氣流量測(cè)量中，天然氣密度變化對(duì)渦輪、渦街等速度式流量計(jì)有明顯的影響，若考慮流量計(jì)在低壓下用空氣做介質(zhì)檢定的結(jié)果是否能直接用於高壓下的天然氣時(shí)，在線實(shí)流檢定成為完全消除物性參數(shù)影響的選擇，因?yàn)榍綑z定、離線檢定不能消除物性參數(shù)對(duì)上述流量測(cè)量儀表的影響。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

提高開關(guān)密度和可擴(kuò)展性對(duì)開發(fā)大型汽車發(fā)動(dòng)機(jī)和航天HIL測(cè)試係統(tǒng)至關(guān)重要。”MikeDewey,directorofmarketingatMarvinTestSolutions：“總體而言，我們看到高密度交換係統(tǒng)正繼續(xù)向像MACPanelSCOUT的無電纜界麵轉(zhuǎn)移。高密度開關(guān)切換係統(tǒng)需要高密度的I/O，從電纜接口轉(zhuǎn)移到無電纜接口以確保足夠的性能並提供可靠的接口?？蛻粢蟮耐ǖ罃?shù)越來越多，也就要求供應(yīng)商尋找更小體積的繼電器，以及識(shí)彆更高密度的I/O連接，這對(duì)3U形式的PXI來說是一個(gè)特彆的挑戰(zhàn)。