HNZDL係列可編程直流穩(wěn)壓電源 直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz訂貨時(shí)需提前說明
輸出電壓：0％--100％可調(diào)輸出 或 固定輸出
輸出電流：0％--100％可調(diào)輸出 或 固定輸出
電源效應(yīng) lt; 0.3％ + 10mV
負(fù)載效應(yīng)： < 0.1% + 10mV
上召開了多次有關(guān)諧波問題的學(xué)術(shù)會(huì)議，不少和學(xué)術(shù)組織都製定了限製電力係統(tǒng)諧波和用電設(shè)備諧波的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定。諧波研究的意義，道德是因?yàn)橹C波的危害十分嚴(yán)重。諧波使電能的生產(chǎn)、傳輸和利用的效率降低，使電氣設(shè)備過熱、產(chǎn)生振動(dòng)和噪聲，並使絕緣老化，使用壽命縮短，甚至發(fā)生故障或燒毀。諧波可引起電力係統(tǒng)局部並聯(lián)諧振或串聯(lián)諧振，使諧波含量放大，造成電容器等設(shè)備燒毀。諧波還會(huì)引起繼電保護(hù)和自動(dòng)裝置誤動(dòng)作，使電能計(jì)量出現(xiàn)混亂。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、顯示：輸出電壓電流LED顯示（可按客戶要求加證D液晶顯示）；
2、外觀：采用臺(tái)式、塔式或19英寸標(biāo)準(zhǔn)化尺寸，支持N+1冗餘擴(kuò)容，可組合放置於工作臺(tái)麵及機(jī)架；
3、優(yōu)點(diǎn)：高頻PWM硬件調(diào)整軟開關(guān)控製技術(shù)使電源率，低紋波、低噪聲、高可靠性、體積小、重量輕；
4、恒壓恒流：輸出CC/CV恒壓恒流自動(dòng)切換，電壓電流值從零到額定值連續(xù)線性調(diào)節(jié)；
5、保護(hù)功能：過壓保護(hù)（OVP)、過流保護(hù)(OCP)、過溫保護(hù)(OTP)、欠壓保護(hù)、過載保護(hù)

福祿克網(wǎng)站提供齊全的SF6氣體檢漏熱像儀培訓(xùn)工具，包括詳細(xì)步驟說明。“高壓電氣設(shè)備的SF6泄漏檢測(cè)一向是破壞性的操作，造成昂貴的設(shè)備及設(shè)備停工費(fèi)用?！备５摽藷岢上袷聵I(yè)部經(jīng)理BrianKnight表示：“FlukeTi45SF6使這一過程方便到令人難以置信，能夠定期執(zhí)行泄漏檢測(cè)、發(fā)現(xiàn)問題，在定期維護(hù)期間即可修複泄漏問題。”Ti45SF6氣體檢漏熱像儀包含屢獲殊榮的LaserSharp激光自動(dòng)對(duì)焦功能，利用內(nèi)置激光測(cè)距儀高準(zhǔn)確度計(jì)算和顯示被瞄準(zhǔn)目標(biāo)的距離，實(shí)現(xiàn)瞬時(shí)對(duì)焦，呈現(xiàn)一貫圖像；儀器還采用了FlukeIR-Fusion技術(shù)，將可見光圖像和紅外圖像組合在一幅圖像中，獲得更好清晰度。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控製電路，穩(wěn)壓、限壓電路，穩(wěn)流、限流保護(hù)電路，以及輔助電源電路等優(yōu)化組合而成。

本電源係列產(chǎn)品采用先進(jìn)的IG逆變技術(shù)，通過數(shù)字模擬閉環(huán)反饋，微處理器控製PWM脈寬控製器，控製能量輸出自由度高，恒流、恒壓精度高，動(dòng)態(tài)響應(yīng)速度快，承受衝擊帶載能力強(qiáng)，允許負(fù)載變化範(fàn)圍大（短路/空載）。使得輸入電壓在電網(wǎng)的不斷變化和負(fù)載的變化之下，都能使輸出產(chǎn)生自適應(yīng)並保持輸出電流和電壓恒定於設(shè)定值，從而確保電鍍生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)。

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝後測(cè)試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控製測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey後，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

停機(jī)時(shí)把調(diào)節(jié)旋鈕調(diào)至較小位置並切斷電源開關(guān)，把啟動(dòng)、停止開關(guān)撥至停止位置。

10.8、自動(dòng)計(jì)時(shí)功能（500A以下自動(dòng)機(jī)型才有）：自動(dòng)計(jì)時(shí)功能是檢測(cè)輸入電流是否大於5A，大於5A則開始記時(shí)，時(shí)控開關(guān)‘時(shí)控關(guān)’，到預(yù)置時(shí)間報(bào)警，並把電流降到10%額定電流以內(nèi)，工件拿出後，時(shí)控不工作，待下一工件放下開始自動(dòng)工作。當(dāng)使用電流小於5A時(shí)

直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A