HNZDL係列可編程直流穩(wěn)壓電源 程控直流穩(wěn)壓電源 電鍍開關電源 單相變頻電源 定製定做

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直流輸出 電壓：0- 6000V連續(xù)可調  

電流：0- 100000A連續(xù)可調   

源電壓效應 ≤0.2%有效值

負載效應 穩(wěn)壓精度：≤0.5%有效值（阻性負載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負載）而對於支撐端到端傳輸?shù)幕A網絡而言，低延時（微秒級）、無損（lossless）則是重要的指標。低延時網絡轉發(fā)延時主要產生在設備節(jié)點（這裡忽略了光電傳輸延時和數(shù)據串行延時），設備轉發(fā)延時包括以下三部分：存儲轉發(fā)延時：芯片轉發(fā)線處理延遲，每個hop會產生1微秒左右的芯片處理延時（業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式，單跳延遲可以降低到0.3微秒左右）；Buffer緩存延時：當網絡擁塞時，報文會被緩存起來等待轉發(fā)。

電壓電流設定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過壓保護 內置O.V.P保護，保護值為額定值+5%，保護後關閉輸出，重新開機解鎖

過流保護 過載、短路、定電流輸出老化測試是產品生產中的環(huán)節(jié)，對於CAN通信設備如何進行批量的老化測試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方麵簡述測試方法。什麼是老化測試老化測試是將產品置於實際使用環(huán)境中評測其使用壽命、穩(wěn)定性等指標的一種測試方式。比如對塑膠材料製品，常使用光照老化、濕熱老化、熱風老化。對於電子設備的老化測試，除了以上材料老化測試還經常需要上電測試，以此來考驗產品的穩(wěn)定性。老化測試通常在的老化室中進行。老化室CAN通訊設備老化測試對於CAN通信設備的老化測試，主要是功能性老化測試。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控製電路，穩(wěn)壓、限壓電路，穩(wěn)流、限流保護電路，以及輔助電源電路等優(yōu)化組合而成。

三相電網（或單相）電壓經電源開關進入大功率直流電源後，進行整流濾波，得到的520VDC（單相為300VDC）的平滑直流電壓供給逆變電路。機內控製電源自三相輸入電壓取一路380CAC（或單相220VAC）經變壓器降壓穩(wěn)流後，再通過三端穩(wěn)壓器得到DC±12V電壓供給各部分控製電路使用。

逆變電路主要由大功率IG模塊（或場效應MOSFET模塊）組成全橋變換電路。當PWM輸出控製信號通過隔離驅動器分彆驅動功率模塊，兩組對角管分彆交替導通，在高頻變壓器初級產生高頻脈衝電壓，次級電壓由高頻變壓器變壓後整流向負載提供能量。

當總線變?yōu)榭臻f時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數(shù)據或MCU在正常數(shù)據後誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據發(fā)生了什麼變化?如所示，1在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內時輸出高電平，2在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內時輸出低電平，可以看出，2可能導致MCU接收到錯誤的數(shù)據，並且在數(shù)據後誤接收到1個000數(shù)據。數(shù)據後多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據，在數(shù)據之間存在的空閒狀態(tài)可能會被2識彆為1個起始位，從而導致數(shù)據連續(xù)錯誤。

停機時把調節(jié)旋鈕調至較小位置並切斷電源開關，把啟動、停止開關撥至停止位置。

10.8、自動計時功能（500A以下自動機型才有）：自動計時功能是檢測輸入電流是否大於5A，大於5A則開始記時，時控開關‘時控關’，到預置時間報警，並把電流降到10%額定電流以內，工件拿出後，時控不工作，待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小於5A時

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