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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

如果電源模塊的外圍電路設(shè)計(jì)使用不當(dāng),非但不能發(fā)揮模塊的優(yōu)勢(shì),還可能降低係統(tǒng)可靠性,本次我們就來(lái)談?wù)勔恍╇娫茨K外圍電路設(shè)計(jì)核心要點(diǎn)。兩級(jí)浪湧防護(hù)電路,使用不當(dāng)適得其反電源模塊體積小,在EMC要求比較高的場(chǎng)合,需要增加額外的浪湧防護(hù)電路,以提升係統(tǒng)EMC性能。如所示,為提高輸入級(jí)的浪湧防護(hù)能力,在外圍增加了壓敏電阻和TVS管。但圖中的電路、原目的是想實(shí)現(xiàn)兩級(jí)防護(hù),但可能適得其反。如果中MOV2的壓敏電壓和通流能力比MOV1低,在強(qiáng)乾擾場(chǎng)合,MOV2可能無(wú)法承受浪湧衝擊而提前損壞,導(dǎo)致整個(gè)係統(tǒng)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。工頻電磁場(chǎng)波形由於是測(cè)量電路存在周期性波動(dòng),那工頻電磁場(chǎng)擾動(dòng)的可能性更大,用示波器觀測(cè)工頻電磁場(chǎng)波形如,一般認(rèn)為50Hz工頻電磁場(chǎng)乾擾是由兩方麵原因產(chǎn)生:-50Hz工頻乾擾通過(guò)傳導(dǎo)進(jìn)入係統(tǒng);-50Hz工頻乾擾通過(guò)空間耦合進(jìn)入係統(tǒng)。針對(duì)上述問(wèn)題,消除50Hz工頻電磁場(chǎng)乾擾的方法也相對(duì)明確,有下述四種方案可供電路設(shè)計(jì)者去參考:利用電氣隔離,阻斷工頻乾擾的傳導(dǎo)路徑;-敏感電路處搭建共模和濾波電路,濾除進(jìn)入輸入通道的工頻擾動(dòng);-軟件中構(gòu)建IIR陷波或者FIR帶阻數(shù)字濾波器,消除工頻乾擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響;-降低測(cè)量引線(xiàn)回路麵積,增加,減弱空間耦合效應(yīng)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

示波器是常用的測(cè)量?jī)x器,具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集與能力,還可以將采集到的波形導(dǎo)出,放到電腦上進(jìn)行。這個(gè)功能與波形記錄儀十分相似,那麼我們能不能將示波器用出波形記錄儀的效果呢?傳統(tǒng)波形記錄儀能長(zhǎng)時(shí)間的采集信號(hào),並將數(shù)據(jù)保存到設(shè)備的硬盤(pán)中,采集的時(shí)間長(zhǎng)度取決於采樣率以及硬盤(pán)容量,其缺點(diǎn)是不具備實(shí)時(shí)功能,而這正好是示波器的強(qiáng)項(xiàng),示波器能在長(zhǎng)時(shí)間采集的同時(shí)對(duì)波形進(jìn)行。示波器冇有配備大容量硬盤(pán),要將示波器用出記錄儀的效果,需要把存儲(chǔ)深度發(fā)揮出。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。ZLG致遠(yuǎn)電子ZDL6000示波記錄儀提供了20G存儲(chǔ)深度,可持續(xù)采集20餘天的數(shù)據(jù),解決用戶(hù)數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)問(wèn)題?;丁皩?shí)時(shí)運(yùn)算+觸發(fā)+搜索”功能,用戶(hù)可捕獲突發(fā)異常。配合“動(dòng)作/Go-NoGo”功能,在異常出現(xiàn)時(shí),用戶(hù)可時(shí)間通過(guò)警報(bào)、郵件等方式獲得通知,設(shè)備可自動(dòng)以圖片或數(shù)據(jù)文件方式保存異常現(xiàn)場(chǎng),的提升問(wèn)題與解決效率。除此之外ZDL6000示波記錄儀延續(xù)了ZDS係列示波器的用戶(hù)體驗(yàn),在滿(mǎn)足大數(shù)據(jù)記錄與異常需求的同時(shí),保證了靈活的示波功能,可謂是同時(shí)將示波與大數(shù)據(jù)記錄做到了完用戶(hù)體驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 天下武功,唯快不破。在保證**的基礎(chǔ)上儘可能提高測(cè)試效率也是T/R組件測(cè)試領(lǐng)域不變的追求和目標(biāo)。當(dāng)然,提高測(cè)試效率的方法有很多,提高測(cè)試儀器儀表的性能(提高掃描速度和增加測(cè)試功能等)、簡(jiǎn)化連接和校準(zhǔn)過(guò)程以及優(yōu)化測(cè)試程序和工藝等。還有冇有其它辦法呢?那就是並行測(cè)試,這也是當(dāng)今自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的重要趨勢(shì)和方向之一。所謂並行測(cè)試就是充分利用測(cè)試儀器和測(cè)試通道等資源,按照一定的調(diào)度規(guī)劃同時(shí)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試任務(wù),從而提高測(cè)試效率。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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