HN2016智能sf6微水測(cè)試儀微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)	測(cè)量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的，BX係列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測(cè)樣品測(cè)量的精度，被樣品的製樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫?qū)?huì)反映在結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個(gè)方麵：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成範(fàn)圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的乾擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。幾乎所有需要進(jìn)行波形顯示的測(cè)量儀器都麵臨一個(gè)問題：待顯示的波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)不等於屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在這樣的情況下，如何把波形繪製到顯示區(qū)域中去？本文將為你介紹一下解決這一問題的幾種方案。種情況：波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)大於屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在不同情況下，使用的抽取方案不同。等間隔抽取等間隔抽取這其實(shí)就是一個(gè)如何把大量波形壓縮到特定點(diǎn)數(shù)的問題，針對(duì)這個(gè)問題我們很自然就可以想到采用等間隔波形抽取。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

電源開機(jī)時(shí)間的測(cè)試開機(jī)時(shí)間（TurnOnTim：輸入電壓開始供電給電源時(shí)到電源輸出的電壓達(dá)到要求電壓值Va時(shí)的時(shí)間，如上圖所示。測(cè)試方法：?jiǎn)?dòng)測(cè)試：選擇啟動(dòng)測(cè)試觸發(fā)源為外部觸發(fā)，可選用我司IT65C/D係列直流電源或IT76係列交流電源作為待測(cè)電源的DC/AC輸入，並通過模擬量接口提供同步信號(hào)給負(fù)載，當(dāng)負(fù)載接收到TRI信號(hào)時(shí)，開始測(cè)試；結(jié)束測(cè)試：選擇結(jié)束測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Va，當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí)，停止測(cè)試；負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號(hào)之間的時(shí)間差，即為待測(cè)電源的開機(jī)時(shí)間。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。當(dāng)我們用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量洛氏硬度時(shí)，硬度計(jì)壓頭是金剛石錐體，壓頭（錐頂直徑為0.4毫米）與被測(cè)表麵的接觸麵積較小。加載時(shí)，壓頭很容易穿透擠壓層，因此硬度的測(cè)量偏差較小。試驗(yàn)證明，測(cè)量偏差一般在5HRC以內(nèi)。用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量布氏硬度時(shí)，硬度計(jì)壓頭是鋼球壓頭，壓頭與被測(cè)表麵的接觸麵積較大。加載時(shí)，壓頭必須克服擠壓層的較大阻力才能被測(cè)表麵，這就使硬度計(jì)壓頭的量不夠，所壓得的圓形壓痕也隨之變小，致使相應(yīng)的硬度值偏高於其真實(shí)值。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 我們家裡的空調(diào)、冰箱等家電都貼有一張“能效標(biāo)識(shí)”，標(biāo)明了該家電的能耗等級(jí)。你知道這個(gè)能耗等級(jí)是怎麼測(cè)試出來的嗎？特彆是一些小功率設(shè)備的待機(jī)功耗，其測(cè)試方法不同會(huì)嚴(yán)重影響結(jié)果。讓我們來看一個(gè)實(shí)際測(cè)試案例。某工程師用致遠(yuǎn)電子的功率計(jì)PA31測(cè)試開關(guān)電源的待機(jī)功耗。次測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)待機(jī)功耗達(dá)到3mW，比理論值大出很多。測(cè)試參數(shù)如下圖所示：該工程師非常疑惑，於是與我司技術(shù)人員溝通測(cè)試方案，在詳細(xì)了解其測(cè)試過程以及儀器參數(shù)設(shè)置之後，我司技術(shù)人員給出了測(cè)試建議，修改了部分設(shè)置參數(shù)以及測(cè)試接線方式，得到了真實(shí)的待機(jī)功耗數(shù)據(jù)，測(cè)試參數(shù)如下圖所示：對(duì)比上麵兩張圖，可以發(fā)現(xiàn)，修改參數(shù)和接線後，測(cè)試的待機(jī)功耗隻有.4mW，與修改前的3mW相差將近8倍。